ZHCAEL7B July 2022 – December 2024 AM623 , AM625
本节提供从 AM62x 中的处理器到系统中的各种存储器目标的往返读取延迟测量。测量是使用裸机芯片验证测试在 AM62x 平台上进行的。测试在 A53、M4F 和 R5F 处理器上执行,并使用 LPDDR4。每个测试包括一个由 8192 次迭代组成的循环,可读取总计 32KiB 的数据。每次访问的周期数被计数并除以相应的处理器时钟频率以获得延迟时间。表 3-4 展示了平均延迟结果。
| 存储器 | Arm-Cortex-A53 (平均 ns) | Arm-Cortex-R5F WKUP (平均 ns) | Arm-Cortex-M4F MCU(平均 ns) |
|---|---|---|---|
| LPDDR4 | 219 | 228 | 350 |
| OCSRAM MAIN | 127 | 70 | 170 |
| R5F WKUP TCM | 104 | 2.5 | 180 |
M4F MCU TCM | 263 | 233 | 10 |
测试在以下条件下完成:0.75V VDD_CORE、1.25Hz A53 内核、400MHz R5F 内核、400MHz M4F 内核和 1600MT/s LPDDR4。紧耦合存储器,即 TCM,是直接与 ARM Cortex 内核相连的 RAM。ARM 架构提供本地内部低延迟路径,还允许通过 SoC 总线基础设施对外部存储器进行访问。