摘要
DP83822、DP83825 和 DP83826（本文档中统称为 DP8382x）器件是符合 IEEE 802.3 的 10/100Mbps 工业以太网物理层 (PHY) 系列。本应用手册讨论了 100BASE-TX 和 10BASE-Te 合规性测试，以及操作用于这些测试的 DUT 的过程。
商标
Tektronix®is a reg TM ofTektronix, Inc.
Spirent®is a reg TM ofSpirent Communications plc.
Agilent®is a reg TM ofAgilent Technologies, Inc.
Keysight®is a reg TM ofKeysight Technologies, Inc.
Rohde & Schwarz®is a reg TM ofRohde & Schwarz GmbH & Co. KG.
LeCroy®is a reg TM ofTeledyne LeCroy, Inc..
Other TMs
1 术语
表 1-1 提供了本应用手册中使用的术语列表。
| 首字母缩写词 | 定义 |
|---|---|
| DUT | 待测试的器件 |
| LP | 链路伙伴 |
| PHY | 物理层收发器 |
| SMI | 串行管理接口 |
| IPG | 数据包间间隙 |
| FLP | 快速链路脉冲 |
| NLP | 正常链路脉冲 |
| TX | 发送 – 数字引脚 |
| RX | 接收 – 数字引脚 |
| TD | 发送 – 模拟引脚 |
| RD | 接收 – 模拟引脚 |
| AVD | 模拟电源 |
| CT | 磁性中心抽头 |
| VDDIO | 数字电源 |
| BIST | 内置自检 |
| TPM | 双绞线型号 |
| AOI | 有源输出接口 |
| AFE | 模拟前端 |
|
MDI |
媒体相关接口 |
|
MDIX |
媒体相关接口的交叉版本 |
|
VoD |
差分输出电压 |
2 标准和系统要求
2.1 标准
以下标准可作为本文档中描述之测试的参考。
- IEEE802.3-2005 第 14.3.1 款
- IEEE802.3-2005 第 25.4 款
- ANSI X3.263-1995
2.2 测试设备供应商
已知以下测试设备供应商提供 IEEE 802.3 合规性测试设备。
- Tektronix®
- Spirent®
- Agilent® (Keysight®)
- Rohde & Schwarz®
- Teledyne LeCroy®
2.3 测试设备要求
以下硬件和软件用于本应用手册中讨论的测试。
- 带有以太网物理层合规性软件和测试装置的示波器
- 在 MSP430F5529 上使用 TI 的 USB-2-MDIO GUI 对 PHY 进行寄存器访问
- 用于硬件连接的电缆和探头
3 以太网物理层合规性测试
3.1 标准测试设置和过程
对于以太网物理层合规性测试，通过串行管理接口（SMI，也称为 MDIO 接口）管理 PHY，以配置所需的测试模式脚本。测试结果由示波器的以太网合规性软件（例如 Tektronix 的 TDSET3 测试软件）确定并记录。为确保软件正常运行，请参阅仪器用户手册。
每种以太网物理层合规性测试之间的差异主要是 PHY 的测试模式（请参阅节 5）和测试装置的连接（图 3-1）。
软件通常可以测试多个速度选项，但测试所需的最终应用或用例至关重要。对于 10Mbps 至 100Mbps 测试，需要测试一个或两个通道（取决于 MDI 或 MDIX）。
在进行测试时，考虑样本大小和运行间的差异非常重要。
图 3-1 DP83822 连接到测试装置3.2 100BASE-TX 合规性测试
有关 100BASE-TX 寄存器写入，请参阅节 5。以下测试使用强制 MDI 执行，但也可以在 MDIX 模式下执行。
3.2.1 模板（有源输出接口）
目的：确保输出适合发送模板。
通过条件：MLT-3 眼图符合指定的 ANSI AOI 模板。
图 3-2 100BASE-TX 模板示例波形3.2.2 差分输出电压
目的：确保差分输出电压在指定范围内。
通过条件：该差分输出电压必须处于 950mV 至 1050mV 的正范围和 –950mV 至 –1050mV 的负范围内。正负峰值幅度也必须彼此相差 2%。
图 3-3 100BASE-TX 差分输出电压示例波形