ZHCSZ61 November 2025 TPS7E82-Q1
ADVANCE INFORMATION
该器件有一个内部过功率限制电路,可在内部 SOA(安全工作区)限制内限制 LDO 上的功率耗散。LDO 因素在确保硅元件及封装中使用的键合线安全运行方面由 SOA 限制。这些限制可验证器件的可靠运行,并防止器件失效因过热、击穿或其他损坏效应而产生。
LDO 上耗散的功率 (PDissip) 由 LDO 两端的压降 (VIN - V OUT) 及流经的负载电流 (IL) 定义。
功率限制电路可监测 LDO 上的压降(余量,VIN - VOUT)和流经的输出负载电流 (IOUT)。如果 PDissip 超过定义的 SOA 限制,则功率限制电路会限制流经的负载电流 (IOUT)。当器件处于功率限制操作状态时,不会调节输出电压。节 5.5 中记录了满余量 (VIN - VOUT = 40V) 下支持的最大电流 (IPLIMIT) 和满负载电流下支持的最大余量 (VPHEADROOM)。
图 6-6 展示了功率限制图。