8 修订历史记录
Date Letter Revision History Changes Intro HTMLA (February 2024)to RevisionB (January 2026)
- 在规格中添加了器件流程信息的说明Go
- 向电气特性 中的典型测试条件添加了所有芯片原产地 (CSO) 条件Go
- 在电气特性中添加了短路电流的不同制造过程规格Go
- 在电气特性 中添加了转换率的不同制造过程规格Go
- 在电气特性中新增了过载恢复的不同制程规格Go
- 向典型特性 中的典型测试条件添加了所有芯片原产地 (CSO) 条件Go
- 在典型特性中，为“增益与频率的关系”、“电源抑制比与频率的关系”、“输出电压摆幅与输出电流的关系”、“静态与短路电流随温度变化特性”以及“大信号阶跃响应”曲线新增“CSO:SHE”标识Go
- 添加“增益与频率间的关系”、“电源抑制与频率间的关系”、“输出电压摆幅与输出电流间的关系”、“静态电流与温度间的关系”、“短路电流与温度间的关系”以及“大信号阶跃响应”曲线到典型特性中的 CSO:TIDGo
- 向器件命名规则添加了器件型号流程信息表Go
Date Letter Revision History Changes Intro HTML* (November 1996)to RevisionA (February 2024)
- 更新了整个文档中的表格、图和交叉参考的编号格式Go
- 添加了 ESD 等级、建议运行条件、热性能信息、应用和实施、典型应用、器件和文档支持 以及机械、封装和可订购信息 部分Go
- 从数据表中删除了 DIP 封装和相关内容Go
- 更新了特性 要点Go
- 更新了应用 要点Go
- 添加了引脚功能表Go
- 在绝对最大额定值 中添加了双电源规格Go
- 将绝对最大额定值中的输出短路从“接地”更改为“VS/2”Go
- 为清晰起见，在电气特性和典型特性中，将“VREF = 0V，VCM = VS/2 以及 G = 1”添加到“测试条件”中Go
- 将“失调电压与温度的关系”更改为“失调电压漂移”，并为清晰起见新增测试条件“TA = –40℃ 至 +85℃”Go
- 为了清晰起见，将“偏移电压与时间间的关系”更改为“长期稳定性”Go
- 为了清晰起见，已将“偏移电压与电源电压间的关系”更改为“电源抑制比”Go
- 将 1kHz 时的电压噪声典型值从 65nV/√Hz 更改为 75nV/√Hz
Go
- 为清晰起见，将“增益误差与温度间的关系”更改为“增益误差漂移”，并添加“TA = –40℃ 至 +85℃ 测试条件”Go
- 将“电压，正”更改为“正输出电压摆幅”，并从“电压，负”更改为“负输出电压摆幅”Go
- 为清晰起见，在短路电流中添加了测试条件“持续至 VS/2”Go
- 将短路电流典型值从 ±12mA 更改为 +6mA/–15mAGo
- 删除了电源电压范围典型值 ±15VGo
- 将电压范围、工作温度范围和热阻从电气特性移至建议运行条件和热性能信息
Go
- 将静态电流参数典型值从 ±160µA 更改为 ±175µA，将最大值从 ±185µA 更改为 ±230µAGo
- 为了清晰起见，将“VREF = VS/2，VCM = VS/2 以及 G = 1”添加到电气特征：VS = 5V 的测试条件中Go
- 将“失调电压与温度的关系”更改为“失调电压漂移”，并为清晰起见新增测试条件“TA = –40℃ 至 +85℃”Go
- 向负输出电压摆幅最小值和典型值添加了 (V–)Go
- 删除了电源电压范围典型值 +5VGo
- 将电压范围从电气特性：VS = 5V 移至建议运行条件中Go
- 将静态电流参数典型值从 ±155µA 更改为 ±175µA，将最大值从 ±185µA 更改为 ±230µAGo