ZHCSW92B May 2024 – July 2025 DLP472TE
PRODUCTION DATA
5.8 时序要求
在自然通风条件下的工作温度范围内和电源电压下测得（除非另有说明）
| 参数 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| LVCMOS | ||||||
| tr | 上升时间(1) | 20% 至 80% 基准点 | 25 | ns | ||
| tf | 下降时间(1) | 80% 至 20% 基准点 | 25 | ns | ||
| 低速接口 (LSIF) | ||||||
| tr | 上升时间(2) | 20% 至 80% 基准点 | 450 | ps | ||
| tf | 下降时间(2) | 80% 至 20% 基准点 | 450 | ps | ||
| tW(H) | 脉冲持续时间，高电平(3) | LS_CLK 50% 至 50% 基准点 | 3.1 | ns | ||
| tW(L) | 脉冲持续时间，低电平(3) | LS_CLK 50% 至 50% 基准点 | 3.1 | ns | ||
| tsu | 建立时间(4) | LS_CLK 上升沿之前的 LS_WDATA 有效时间（差分） | 1.5 | ns | ||
| th | 保持时间(4) | LS_CLK 上升沿之后的 LS_WDATA 有效时间（差分） | 1.5 | ns | ||
| 高速串行接口 (HSSI) | ||||||
| tr | 上升时间(5) — 数据 | 从 –A1 到 A1 的最低眼图高度规格 | 50 | 115 | ps | |
| 上升时间(5) — 时钟 | 从 –A1 到 A1 的最低眼图高度规格 | 50 | 135 | ps | ||
| tf | 下降时间(5) - 数据 | 从 A1 到 –A1 的最低眼图高度规格 | 50 | 115 | ps | |
| 下降时间(5) - 时钟 | 从 A1 到 –A1 的最低眼图高度规格 | 50 | 135 | ps | ||
| tW(H) | 脉冲持续时间，高电平(6) | DCLK 50% 至 50% 基准点 | 0.275 | ns | ||
| tW(L) | 脉冲持续时间，低电平(6) | DCLK 50% 至 50% 基准点 | 0.275 | ns | ||
(1) 有关 LVCMOS 的上升时间和下降时间，请参阅图 5-10。
(2) 有关 LSIF 的上升时间和下降时间，请参阅图 5-6。
(3) 有关 LSIF 的高电平和低电平脉冲持续时间，请参阅图 5-5。
(4) 有关 LSIF 的建立时间和保持时间，请参阅图 5-5。
(5) 有关 HSSI 的上升时间和下降时间，请参阅图 5-11。
(6) 有关 HSSI 的高电平和低电平脉冲持续时间，请参阅图 5-13。
方程式 1. 
方程式 2. 
图 5-5 LSIF 时序要求
图 5-6 LSIF 上升/下降时间压摆率
图 5-7 LSIF 电压要求
图 5-8 LSIF 等效输入
图 5-9 LVCMOS 输入迟滞
图 5-10 LVCMOS 上升/下降时间压摆率
方程式 3. 
方程式 4. 
图 5-12 HSSI 眼图特性
图 5-13 HSSI CLK 特性