ZHCSBA2G April 2013 – January 2022 CSD17381F4
PRODUCTION DATA
此 90mΩ、30V N 沟道 FemtoFET™ MOSFET 技术经过设计和优化,能更大程度减小在许多手持式和移动应用中的空间占用。这项技术能够在替代标准小信号 MOSFET 的同时将封装尺寸减小至少 60%。
TA = 25°C | 典型值 | 单位 | ||
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VDS | 漏源电压 | 30 | V | |
Qg | 栅极电荷总量 (4.5V) | 1040 | pC | |
Qgd | 栅极电荷(栅漏极) | 133 | pC | |
RDS(on) | 漏源导通电阻 | VGS = 1.8V | 160 | mΩ |
VGS = 2.5V | 110 | mΩ | ||
VGS = 4.5V | 90 | mΩ | ||
VGS(th) | 阈值电压 | 0.85 | V |
器件(1) | 数量 | 介质 | 封装 | 配送 |
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CSD17381F4 | 3000 | 7 英寸卷带 | Femto(0402) 1.0mm × 0.6mm 无引线表面贴装器件 (SMD) | 卷带包装 |
CSD17381F4T | 250 |
TA = 25°C 时测得,除非另外注明 | 值 | 单位 | |
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VDS | 漏源电压 | 30 | V |
VGS | 栅源电压 | 12 | V |
ID | 持续漏极电流,TA = 25°C 时测得(1) | 3.1 | A |
IDM | 脉冲漏极电流,TA = 25°C(2) | 12 | A |
IG | 持续栅极钳位电流 | 35 | mA |
脉冲栅极钳位电流(2) | 350 | ||
PD | 功率耗散(1) | 500 | mW |
ESD 等级 | 人体放电模型 (HBM) | 4 | kV |
充电器件模型 (CDM) | 2 | kV | |
TJ、 Tstg | 运行结温和 贮存温度范围 | -55 至 150 | °C |
EAS | 雪崩能量,单脉冲 ID = 7.4A, L = 0.1mH,RG = 25Ω | 2.7 | mJ |