ZHCSQL3C December 2024 – July 2025 CDC6C
PRODUCTION DATA
请参考 PDF 数据表获取器件具体的封装图。
| 参数 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 电流消耗特性 | ||||||
| IDD | 器件电流消耗(不包括负载电流) | -40℃ 至 85℃,Fout = 20MHz,Vdd = 1.8V ± 10% | 4.22 | 6.7 | mA | |
| -40℃ 至 85℃,Fout = 20MHz,Vdd = 3.3V ± 10% | 4.41 | 6.7 | mA | |||
| -40℃ 至 105℃,Fout = 20MHz,Vdd = 1.8V ± 10% | 4.22 | 7.3 | mA | |||
| -40℃ 至 105℃,Fout = 20MHz,Vdd = 3.3V ± 10% | 4.41 | 7.3 | mA | |||
| IDD | 器件电流消耗(不包括负载电流) | -40℃ 至 85℃,Fout = 25MHz,Vdd = 1.8V ± 10% | 4.32 | 6.8 | mA | |
| -40℃ 至 85℃,Fout = 25MHz,Vdd = 3.3V ± 10% | 4.57 | 6.9 | mA | |||
| -40℃ 至 105℃,Fout = 25MHz,Vdd = 1.8V ± 10% | 4.32 | 7.4 | mA | |||
| -40℃ 至 105℃,Fout = 25MHz,Vdd = 3.3V ± 10% | 4.57 | 7.5 | mA | |||
| IDD | 器件电流消耗(不包括负载电流) | -40℃ 至 85℃,Fout = 50MHz,Vdd = 1.8V ± 10% | 4.84 | 7.1 | mA | |
| -40℃ 至 85℃,Fout = 50MHz,Vdd = 3.3V ± 10% | 5.33 | 7.2 | mA | |||
| -40℃ 至 105℃,Fout = 50MHz,Vdd = 1.8V ± 10% | 4.84 | 7.6 | mA | |||
| -40℃ 至 105℃,Fout = 50MHz,Vdd = 3.3V ± 10% | 5.33 | 7.8 | mA | |||
| IDD | 器件电流消耗(不包括负载电流) | -40℃ 至 85℃,Fout = 100MHz,Vdd = 1.8V ± 10% | 5.86 | 7.6 | mA | |
| -40℃ 至 85℃,Fout = 100MHz,Vdd = 3.3V ± 10% | 6.77 | 9.0 | mA | |||
| -40℃ 至 105℃,Fout = 100MHz,Vdd = 1.8V ± 10% | 5.86 | 8.2 | mA | |||
| -40℃ 至 105℃,Fout = 100MHz,Vdd = 3.3V ± 10% | 6.77 | 9.0 | mA | |||
| IDD | 器件电流消耗(不包括负载电流) | -40℃ 至 85℃,Fout = 150MHz,Vdd = 1.8V ± 10% | 7.14 | 9.5 | mA | |
| -40℃ 至 85℃,Fout = 150MHz,Vdd = 3.3V ± 10% | 8.72 | 11.0 | mA | |||
| -40℃ 至 105℃,Fout = 150MHz,Vdd = 1.8V ± 10% | 7.14 | 9.5 | mA | |||
| -40℃ 至 105℃,Fout = 150MHz,Vdd = 3.3V ± 10% | 8.72 | 11.0 | mA | |||
| IDD_stdby | 器件待机电流 | -40℃ 至 85℃,ST = 接地,Vdd=1.8V ± 10% | 1.5 | µA | ||
| -40℃ 至 85℃,ST = 接地,Vdd=2.5V ± 10% | 2 | µA | ||||
| -40℃ 至 85℃,ST = 接地,Vdd=3.3V ± 10% | 2.7 | µA | ||||
| -40℃ 至 105℃,ST = 接地,Vdd=1.8V ± 10% | 1.5 | µA | ||||
| -40℃ 至 105℃,ST = 接地,Vdd=2.5V ± 10% | 2 | µA | ||||
| -40℃ 至 105℃,ST = 接地,Vdd=3.3V ± 10% | 2.7 | µA | ||||
| IDD-OD | 输出禁用时的器件电流 | -40℃ 至 85℃,Fout = 25MHz,Vdd = 1.8V ± 10% | 3.75 | 6.4 | mA | |
| -40℃ 至 85℃,Fout = 25MHz,Vdd = 3.3V ± 10% | 3.76 | 6.5 | mA | |||
| -40℃ 至 105℃,Fout = 25MHz,Vdd = 1.8V ± 10% | 3.75 | 7 | mA | |||
| -40℃ 至 105℃,Fout = 25MHz,Vdd = 3.3V ± 10% | 3.76 | 7.1 | mA | |||
| 输出特性 | ||||||
| Fout | 输出频率 | 0.25 | 200 | MHz | ||
| VOL | 输出低电压 | IOL = 3.6mA、VDD = 1.8V | 0.36 | V | ||
| IOL = 5.0mA、VDD = 2.5V | 0.5 | V | ||||
| IOL = 6.6mA、VDD = 3.3V | 0.66 | V | ||||
| VOH | 输出高电压 | IOH = 3.6mA、VDD = 1.8V | VDD × 0.88 | V | ||
| IOH = 5.0mA、VDD = 2.5V | VDD × 0.85 | V | ||||
| IOH = 6.6mA、VDD = 3.3V | VDD × 0.85 | V | ||||
| tR/tF | 输出上升/下降时间 | VOH-VOL 的 20% 至 80%,CL = 2pF,正常模式,Fout = 25MHz | 0.28 | 0.65 | ns | |
| tR/tF | 输出上升/下降时间 | VOH-VOL 的 20% 至 80%,CL = 2pF,慢速模式 1,Fout = 25MHz | 0.42 | 0.75 | ns | |
| tR/tF | 输出上升/下降时间 | VOH-VOL 的 20% 至 80%,CL = 5pF,正常模式,Fout = 25MHz | 0.33 | 0.8 | ns | |
| tR/tF | 输出上升/下降时间 | VOH-VOL 的 20% 至 80%,CL = 5pF,慢速模式 2,Fout = 25MHz | 1.11 | 2.0 | ns | |
| tR/tF | 输出上升/下降时间 | VOH-VOL 的 20% 至 80%,CL = 10pF,正常模式,Fout = 25MHz | 0.44 | 1.7 | ns | |
| tR/tF | 输出上升/下降时间 | VOH-VOL 的 20% 至 80%,CL = 10pF,慢速模式 3,Fout = 25MHz | 1.85 | 3.1 | ns | |
| tR/tF | 输出上升/下降时间 | VOH-VOL 的 20% 至 80%,CL = 15pF,正常模式,Fout = 25MHz | 0.87 | 2.2 | ns | |
| tR/tF | 输出上升/下降时间 | VOH-VOL 的 20% 至 80%,CL = 15pF,慢速模式 4,Fout = 25MHz | 2.7 | 4.0 | ns | |
| ODC | 输出占空比 | 45 | 50 | 55 | % | |
| PN-Floor | 输出相位噪底 (fOFFSET > 10MHz) | Fout = 50MHz | -155 | dBc/Hz | ||
| CL | 最大容性负载 | Fout < 50MHz | 30 | pF | ||
| CL | Fout > 50MHz | 15 | pF | |||
| Rout-high | 输出阻抗 | 37.5 | 50 | 62.5 | Ω | |
| 功能引脚特性 (OE/ST) | ||||||
| VIL | 输入低电压 | 0.6 | V | |||
| VIH | 输入高电压 | 1.3 | V | |||
| IIL | 输入低电流 | EN = GND | -40 | µA | ||
| IIH | 输入高电流 | EN = VDD | 40 | µA | ||
| CIN | 输入电容(1) | 2 | pF | |||
| 频率容差 | ||||||
| FT | 总频率稳定性 | 仅适用于 DLE、DLF 和 DLX 封装。包括:焊接漂移、初始容差、-40℃ 到 105℃ 温度范围内的变化、电源电压范围内的变化以及 25℃ 条件下的 10 年老化。 | ±25 | ppm | ||
| FT | 总频率稳定性 | 仅适用于 DLE、DLF 和 DLX 封装。包括:焊接漂移、初始容差、-40℃ 到 105℃ 温度范围内的变化、电源电压范围内的变化以及 25℃ 条件下的 1 年老化。 | ±20 | ppm | ||
| FT | 总频率稳定性 | 仅限 DLY 封装。包括:焊接漂移、初始容差、-40℃ 到 105℃ 温度范围内的变化、电源电压范围内的变化以及 25℃ 条件下的 10 年老化。 | ±50 | ppm | ||
| FT | 总频率稳定性 | 仅限 DLY 封装。包括:焊接漂移、初始容差、-40℃ 到 105℃ 温度范围内的变化、电源电压范围内的变化以及 25℃ 条件下的 1 年老化。 | ±45 | ppm | ||
| FT | 总频率稳定性 | 仅适用于 DLE、DLF 和 DLX 封装。包括:焊接漂移、初始容差、-40℃ 到 85℃ 温度范围内的变化、电源电压范围内的变化以及 25℃ 条件下的 10 年老化。 | ±25 | ppm | ||
| FT | 总频率稳定性 | 仅适用于 DLE、DLF 和 DLX 封装。包括:焊接漂移、初始容差、-40℃ 到 85℃ 温度范围内的变化、电源电压范围内的变化以及 25℃ 条件下的 1 年老化。 | ±20 | ppm | ||
| FT | 总频率稳定性 | 仅限 DLY 封装。包括:焊接漂移、初始容差、-40℃ 到 85℃ 温度范围内的变化、电源电压范围内的变化以及 25℃ 条件下的 10 年老化。 | ±50 | ppm | ||
| FT | 总频率稳定性 | 仅限 DLY 封装。包括:焊接漂移、初始容差、-40℃ 到 85℃ 温度范围内的变化、电源电压范围内的变化以及 25℃ 条件下的 1 年老化。 | ±45 | ppm | ||
| PSRR 特性 | ||||||
| PSRR | 输出频率为 50MHz,VDD = 2.5V/3.3V,无电源去耦电容时,50mV 电源纹波引起的杂散 | 50kHz 处的正弦波 | -80 | dBc | ||
| 100kHz 处的正弦波 | -75 | dBc | ||||
| 500kHz 处的正弦波 | -63 | dBc | ||||
| 1MHz 处的正弦波 | -59 | dBc | ||||
| 上电特性 | ||||||
| tSTART_UP | 启动时间 | 从 0.95 × VDD 到输出启用并达到规格的时间。OE/ST = 高电平;将电源电压斜坡时间设为 200µs 进行测试 | 1.5 | 3 | ms | |
| tRESUME | 芯片恢复时间 | 从 ST = VIH 到输出启用并达到规格的时间 | 3 | ms | ||
| tST-DIS | 芯片禁用时间 | 从 ST = VIL 到芯片处于待机模式的时间 (Fout > 100MHz) | 250 | ns | ||
| tOE-EN | 输出使能时间 | 从 OE = VIH 到输出启用并达到规格的时间 (Fout > 100MHz) | 250 | ns | ||
| tOE-DIS | 输出禁用时间 | 从 OE = VIL 到输出禁用的时间 (Fout > 100MHz) | 250 | ns | ||
| 时钟输出抖动 | ||||||
| RJ | 随机相位抖动 | 10MHz ≤ Fout < 25MHz,集成 BW:12kHz - 5MHz,最高温度 = 105°C | 400 | 1000 | fs | |
| RJ | 随机相位抖动 | 25MHz ≤ Fout ≤ 200MHz,集成 BW:12kHz - 20MHz,最高温度 = 105°C | 400 | 1000 | fs | |
| SPN100k | 1kHz 偏移时的点相位噪声 | Fout = 100MHz | -86 | dBc/Hz | ||
| SPN100k | 10kHz 偏移时的点相位噪声 | Fout = 100MHz | -120 | dBc/Hz | ||
| SPN100k | 100kHz 偏移时的点相位噪声 | Fout = 100MHz | -138 | dBc/Hz | ||
| SPN1M | 1MHz 偏移时的点相位噪声 | Fout = 100MHz | -143 | dBc/Hz | ||
| RJITT,RMS | RMS 周期抖动 | Fout ≥ 25MHz | 3 | ps | ||
| RJITT,PK | 峰峰值周期抖动 | Fout ≥ 25MHz | 26 | ps | ||