测试和测量

对 IC 的需求不断增长，这推动了测试通道密度的增大以及 VI 仪器所需支持的电压和电流的增加。我们的功率放大器、开关和电源模块可减小解决方案尺寸，从而增大测试通道密度。

工程师在为时钟、数据转换器或放大器等测试、测量应用的噪声敏感型系统设计电源时，经常遇到的一个问题是如何更大限度地降低噪声。鉴于不同的人对术语“噪声”有不同的理解，我们将噪声定义为电路中电阻器和晶体管所产生的低频热噪声。

您通常可将噪声频谱密度曲线（以微伏/平方根赫兹为单位）中100Hz至100kHz带宽内的噪声视为集成输出噪声（以均方根毫伏为单位）。我们提供的产品和参考设计可帮助缓解可能影响信号链中器件性能的潜在噪声耦合。

凭借数十年的创新，我们提供专为测试和测量应用量身打造的高性能解决方案。我们先进的模数转换器 (ADC)、数模转换器 (DAC)、时钟和射频 (RF) 放大器可提供高速、高性能和高可靠性。我们的元件具有长期可用性和专家支持，使您能够构建下一代系统来突破测量精度和效率的界限。