ZHCSCG1C April 2014 – July 2015 TMP007
PRODUCTION DATA.
此器件性能由信号、响应度和传感器噪声表示。此传感器噪声可由原始传感器电压表示,或者由具有已知光传递函数的基准系统表示。
为了进行比较,NETD 被指定给没有透镜的基准系统,以及具有一个理想(非吸收)F/1 透镜的基准系统。
The following links connect to TI community resources. Linked contents are provided AS IS by the respective contributors. They do not constitute TI specifications and do not necessarily reflect TI's views; see TI's Terms of Use.
E2E is a trademark of Texas Instruments.
All other trademarks are the property of their respective owners.
ESD 可能会损坏该集成电路。德州仪器 (TI) 建议通过适当的预防措施处理所有集成电路。如果不遵守正确的处理措施和安装程序 , 可能会损坏集成电路。
ESD 的损坏小至导致微小的性能降级 , 大至整个器件故障。 精密的集成电路可能更容易受到损坏 , 这是因为非常细微的参数更改都可能会导致器件与其发布的规格不相符。
SLYZ022 — TI Glossary.
This glossary lists and explains terms, acronyms, and definitions.