参数测量单元 (PMU)
产品和参考设计
参数测量单元 (PMU)
概述
我们的集成电路和参考设计可帮助您创建晶圆级、封装级和板级的高精度参数测量单元 (PMU) 设计，从而提供实现高通道数的密集型解决方案，同时更大限度减少通道间差异。
设计要求
下一代 PMU 设计通常需要：
- 通过数据采集通道实现更高的速度和准确性。
- 严格的温度控制，从而更大限度地减少测量误差。
- 生成精确的基准电压，从而提高测量精度。
- 低抖动时钟分配，从而更大限度地提高信噪比 (SNR) 性能。
- 高度集成的薄型电源模块，从而更大限度地减少布板间距。
扩展该应用的功能
方框图
查找适合您系统的产品和参考设计。
技术文档
未找到结果。请清除搜索并重试。
查看全部 5
| 类型 | 标题 | 下载最新的英语版本 | 日期 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 应用简报 | 解决半导体测试和 ATE 应用中的电源设计难题 (Rev. A) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2025-12-3 | |
| 应用简报 | 用于测量参数测量单元 (PMU) 模拟输出的精密 ADC (Rev. B) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2025-1-24 | |
| 应用手册 | 多路复用器将取代继电器 (Rev. A) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2024-6-21 | |
| 应用简报 | 如何为半导体测试仪选择精密放大器 (Rev. A) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2021-3-31 | |
| 应用简报 | Pairing up Op Amp and Buffer for Higher Output Power Plus Speed in ATE | 2019-6-7 |