产品详情

Configuration 2:1 SPDT Number of channels 1 Power supply voltage - single (V) 5, 12, 16, 20, 36, 44 Power supply voltage - dual (V) +/-10, +/-15, +/-18, +/-22, +/-5 Protocols Analog Ron (typ) (Ω) 1.9 CON (typ) (pF) 146 ON-state leakage current (max) (µA) 0.07 Supply current (typ) (µA) 30 Bandwidth (MHz) 38 Operating temperature range (°C) -40 to 125 Features 1.8-V compatible control inputs, Break-before-make Input/output continuous current (max) (A) 0.21 TI functional safety category Functional Safety-Capable Rating Automotive
Configuration 2:1 SPDT Number of channels 1 Power supply voltage - single (V) 5, 12, 16, 20, 36, 44 Power supply voltage - dual (V) +/-10, +/-15, +/-18, +/-22, +/-5 Protocols Analog Ron (typ) (Ω) 1.9 CON (typ) (pF) 146 ON-state leakage current (max) (µA) 0.07 Supply current (typ) (µA) 30 Bandwidth (MHz) 38 Operating temperature range (°C) -40 to 125 Features 1.8-V compatible control inputs, Break-before-make Input/output continuous current (max) (A) 0.21 TI functional safety category Functional Safety-Capable Rating Automotive
VSSOP (DGK) 8 14.7 mm² (3 mm × 4.9 mm)
  • 符合面向汽车应用的 AEC-Q100 标准
    • 器件温度等级 1:–40°C 至 125°C 环境工作温度范围
  • 功能安全型
  • 闩锁效应抑制
  • 双电源电压范围:±4.5V 至 ±22V
  • 单电源电压范围:4.5V 至 44V
  • 低导通电阻:2.1Ω
  • 低电荷注入:−10pC
  • 大电流支持:330mA(最大值)
  • 兼容 1.8V 逻辑电平
  • 失效防护逻辑
  • 轨到轨运行
  • 双向信号路径
  • 先断后合开关
  • 符合面向汽车应用的 AEC-Q100 标准
    • 器件温度等级 1:–40°C 至 125°C 环境工作温度范围
  • 功能安全型
  • 闩锁效应抑制
  • 双电源电压范围:±4.5V 至 ±22V
  • 单电源电压范围:4.5V 至 44V
  • 低导通电阻:2.1Ω
  • 低电荷注入:−10pC
  • 大电流支持:330mA(最大值)
  • 兼容 1.8V 逻辑电平
  • 失效防护逻辑
  • 轨到轨运行
  • 双向信号路径
  • 先断后合开关

TMUX7219-Q1 是一款具有闩锁效应抑制特性的互补金属氧化物半导体 (CMOS) 开关,采用单通道 2:1 (SPDT) 配置。此器件在单电源(4.5V 至 44V)、双电源(±4.5V 至 ±22V)或非对称电源(例如 VDD = 12V,VSS = –5V)供电时均能正常运行。TMUX7219-Q1 可在源极 (Sx) 和漏极 (D) 引脚上支持从 VSS 到 VDD 范围的双向模拟和数字信号。

可以通过控制 EN 引脚来启用或禁用 TMUX7219-Q1。当禁用时,两个信号路径开关都被关闭。当启用时,SEL 引脚可用于打开信号路径 1(S1 至 D)或信号路径 2(S2 至 D)。所有逻辑控制输入均支持 1.8 V 到 VDD 的逻辑电平,因此,当器件在有效电源电压范围内运行时,可确保 TTL 和 CMOS 逻辑兼容性。失效防护逻辑电路允许先在控制引脚上施加电压,然后在电源引脚上施加电压,从而保护器件免受潜在的损害。

TMUX72xx 系列具有闩锁效应抑制特性,可防止器件内寄生结构之间通常由过压事件引起的大电流不良事件。闩锁状态通常会一直持续到电源轨关闭为止,并可能导致器件失效。闩锁效应抑制特性使得 TMUX72xx 系列开关和多路复用器能够在恶劣的环境中使用。

TMUX7219-Q1 是一款具有闩锁效应抑制特性的互补金属氧化物半导体 (CMOS) 开关,采用单通道 2:1 (SPDT) 配置。此器件在单电源(4.5V 至 44V)、双电源(±4.5V 至 ±22V)或非对称电源(例如 VDD = 12V,VSS = –5V)供电时均能正常运行。TMUX7219-Q1 可在源极 (Sx) 和漏极 (D) 引脚上支持从 VSS 到 VDD 范围的双向模拟和数字信号。

可以通过控制 EN 引脚来启用或禁用 TMUX7219-Q1。当禁用时,两个信号路径开关都被关闭。当启用时,SEL 引脚可用于打开信号路径 1(S1 至 D)或信号路径 2(S2 至 D)。所有逻辑控制输入均支持 1.8 V 到 VDD 的逻辑电平,因此,当器件在有效电源电压范围内运行时,可确保 TTL 和 CMOS 逻辑兼容性。失效防护逻辑电路允许先在控制引脚上施加电压,然后在电源引脚上施加电压,从而保护器件免受潜在的损害。

TMUX72xx 系列具有闩锁效应抑制特性,可防止器件内寄生结构之间通常由过压事件引起的大电流不良事件。闩锁状态通常会一直持续到电源轨关闭为止,并可能导致器件失效。闩锁效应抑制特性使得 TMUX72xx 系列开关和多路复用器能够在恶劣的环境中使用。

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技术文档

设计与开发

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接口适配器

LEADED-ADAPTER1 — 表面贴装转 DIP 接头适配器,用于快速测试 TI 的 5、8、10、16 和 24 引脚引线式封装。

EVM-LEADED1 电路板可用于对 TI 的常见引线式封装进行快速测试和电路板试验。  该电路板具有足够的空间,可将 TI 的 D、DBQ、DCT、DCU、DDF、DGS、DGV 和 PW 表面贴装封装转换为 100mil DIP 接头。     

用户指南: PDF
支持的产品和硬件
有库存
限制:
??asset.out-of-stock-ti_zh_CN??
无货
封装 引脚 CAD 符号、封装和 3D 模型
VSSOP (DGK) 8 Ultra Librarian

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