产品详情

Configuration 1:1 SPST Number of channels 2 Power supply voltage - single (V) 5, 12, 16, 20, 36, 44 Power supply voltage - dual (V) +/-10, +/-15, +/-18, +/-22, +/-5 Protocols Analog Ron (typ) (Ω) 2.1 CON (typ) (pF) 12 ON-state leakage current (max) (µA) 0.15 Supply current (typ) (µA) 7 Bandwidth (MHz) 75 Operating temperature range (°C) -40 to 125 Features 1.8-V compatible control inputs, Break-before-make, Fail-safe logic, Integrated pulldown resistor on logic pin Input/output continuous current (max) (mA) 370 Rating Catalog Drain supply voltage (max) (V) 22 Supply voltage (max) (V) 44 Negative rail supply voltage (max) (V) -22
Configuration 1:1 SPST Number of channels 2 Power supply voltage - single (V) 5, 12, 16, 20, 36, 44 Power supply voltage - dual (V) +/-10, +/-15, +/-18, +/-22, +/-5 Protocols Analog Ron (typ) (Ω) 2.1 CON (typ) (pF) 12 ON-state leakage current (max) (µA) 0.15 Supply current (typ) (µA) 7 Bandwidth (MHz) 75 Operating temperature range (°C) -40 to 125 Features 1.8-V compatible control inputs, Break-before-make, Fail-safe logic, Integrated pulldown resistor on logic pin Input/output continuous current (max) (mA) 370 Rating Catalog Drain supply voltage (max) (V) 22 Supply voltage (max) (V) 44 Negative rail supply voltage (max) (V) -22
VSSOP (DGS) 10 14.7 mm² 3 x 4.9
  • 闩锁效应抑制
  • 双电源电压范围:±4.5V 至 ±22 V
  • 单电源电压范围:4.5V 至 44 V
  • 低导通电阻:2.1 Ω
  • –40°C 至 +125°C 工作温度
  • 兼容 1.8V 逻辑电平
  • 逻辑引脚具有集成的下拉电阻器
  • 失效防护逻辑
  • 轨到轨运行
  • 双向运行
  • 闩锁效应抑制
  • 双电源电压范围:±4.5V 至 ±22 V
  • 单电源电压范围:4.5V 至 44 V
  • 低导通电阻:2.1 Ω
  • –40°C 至 +125°C 工作温度
  • 兼容 1.8V 逻辑电平
  • 逻辑引脚具有集成的下拉电阻器
  • 失效防护逻辑
  • 轨到轨运行
  • 双向运行

TMUX722x 是具有闩锁效应抑制特性的互补金属氧化物半导体 (CMOS) 开关,采用双通道 1:1 (SPST) 配置。这些器件支持单电源 (4.5V 至 44 V)、双电源 (±4.5V 至 ±22 V)或非对称电源(例如,V DD = 12V,V SS = –5V)。 TMUX722x 可在源极 (Sx) 和漏极 (D) 引脚上支持从 V SS 到 V DD 范围的双向模拟和数字信号。

TMUX722x 可以通过控制 SEL 引脚打开信号路径 1(S1 至 D1)或信号路径 2(S2 至 D2)来启用或禁用。所有逻辑控制输入均支持 1.8V 到 V DD 的逻辑电平,当器件在有效电源电压范围内运行时,可实现 TTL 和 CMOS 逻辑兼容性。失效防护逻辑电路允许先在控制引脚上施加电压,然后在电源引脚上施加电压,从而保护器件免受潜在的损害。详细信息请参见 。

TMUX72xx 系列具有闩锁效应抑制特性,可防止器件内寄生结构之间通常由过压事件引起的大电流不良事件。闩锁状态通常会一直持续到电源轨关闭为止,并可能导致器件故障。闩锁效应抑制特性使得 TMUX72xx 系列开关和多路复用器能够在恶劣的环境中使用。

TMUX722x 是具有闩锁效应抑制特性的互补金属氧化物半导体 (CMOS) 开关,采用双通道 1:1 (SPST) 配置。这些器件支持单电源 (4.5V 至 44 V)、双电源 (±4.5V 至 ±22 V)或非对称电源(例如,V DD = 12V,V SS = –5V)。 TMUX722x 可在源极 (Sx) 和漏极 (D) 引脚上支持从 V SS 到 V DD 范围的双向模拟和数字信号。

TMUX722x 可以通过控制 SEL 引脚打开信号路径 1(S1 至 D1)或信号路径 2(S2 至 D2)来启用或禁用。所有逻辑控制输入均支持 1.8V 到 V DD 的逻辑电平,当器件在有效电源电压范围内运行时,可实现 TTL 和 CMOS 逻辑兼容性。失效防护逻辑电路允许先在控制引脚上施加电压,然后在电源引脚上施加电压,从而保护器件免受潜在的损害。详细信息请参见 。

TMUX72xx 系列具有闩锁效应抑制特性,可防止器件内寄生结构之间通常由过压事件引起的大电流不良事件。闩锁状态通常会一直持续到电源轨关闭为止,并可能导致器件故障。闩锁效应抑制特性使得 TMUX72xx 系列开关和多路复用器能够在恶劣的环境中使用。

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* 数据表 TMUX722x 44 V,具有闩锁效应抑制和 1.8V 逻辑电平的低 RON、1:1 (SPST)、双通道精密开关 数据表 (Rev. A) PDF | HTML 英语版 (Rev.A) PDF | HTML 2023年 9月 25日

设计和开发

如需其他信息或资源,请点击以下任一标题进入详情页面查看(如有)。

接口适配器

LEADED-ADAPTER1 — 用于快速测试 TI 5、8、10、16 和 24 引脚引线式封装的表面贴装转 DIP 接头适配器

EVM-LEADED1 板可对 TI 的常见引线式封装进行快速测试和电路板试验。该评估板具有足够的空间,可将 TI 的 D、DBQ、DCT、DCU、DDF、DGS、DGV 和 PW 表面贴装封装转换为 100mil DIP 接头。     

用户指南: PDF
TI.com 上无现货
仿真模型

TMUX7221 IBIS Model

SCDM323.ZIP (51 KB) - IBIS Model
封装 引脚 下载
VSSOP (DGS) 10 查看选项

订购和质量

包含信息:
  • RoHS
  • REACH
  • 器件标识
  • 引脚镀层/焊球材料
  • MSL 等级/回流焊峰值温度
  • MTBF/时基故障估算
  • 材料成分
  • 鉴定摘要
  • 持续可靠性监测
包含信息:
  • 制造厂地点
  • 封装厂地点

支持和培训

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