产品详情

Technology family SCxT Number of channels 4 Vout (min) (V) 1.2 Vout (max) (V) 5.5 Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Voltage translation Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family SCxT Number of channels 4 Vout (min) (V) 1.2 Vout (max) (V) 5.5 Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Voltage translation Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • 提供供应商项目图,VID V62/23620
  • 电离辐射总剂量额定值为 30krad(Si)
    • 每个晶圆批次的辐射批次验收测试电离辐射总剂量 (TID RLAT) 额定值高达 30krad(Si)
  • 单粒子效应 (SEE) 特性:
    • 单粒子锁定 (SEL) 对于线性能量传递 (LET) 的抗扰度 = 43MeV-cm2/mg
    • 单粒子瞬变 (SET) 额定值为 43MeV-cm2/mg
  • 1.2V 至 5.5V 的宽工作电压范围
  • 5/3.3/2.5/1.8/1.2V V CC 单电源电压转换门
    • TTL 兼容输入:
      • 升压转换:
        • 1.8V – 1.2V 的输入
        • 2.5V – 1.8V 的输入
        • 3.3V – 1.8V、2.5V 的输入
        • 5.0V – 2.5V、3.3V 的输入
      • 降压转换:
        • 1.2V – 1.8V、2.5V、3.3V、 5.0V 的输入
        • 1.8V – 2.5V、3.3V、5.0V 的输入
        • 2.5V – 3.3V、5.0V 的输入
        • 3.3V – 5.0V 的输入
  • 5.5V 容限输入引脚
  • 5V 时,输出驱动高达 25mA
  • 闩锁性能超过 250mA,符合 JESD 17 规范
  • 增强型航天塑料 (SEP)
    • 受控基线
    • 金键合线
    • NiPdAu 铅涂层
    • 一个组装和测试基地
    • 一个制造基地
    • 军用级(-55°C 到 125°C)温度范围
    • 延长了产品生命周期
    • 延长了产品变更通知 (PCN)
    • 产品可追溯性
    • 符合 NASAs ASTM E595 释气规格要求
  • 提供供应商项目图,VID V62/23620
  • 电离辐射总剂量额定值为 30krad(Si)
    • 每个晶圆批次的辐射批次验收测试电离辐射总剂量 (TID RLAT) 额定值高达 30krad(Si)
  • 单粒子效应 (SEE) 特性:
    • 单粒子锁定 (SEL) 对于线性能量传递 (LET) 的抗扰度 = 43MeV-cm2/mg
    • 单粒子瞬变 (SET) 额定值为 43MeV-cm2/mg
  • 1.2V 至 5.5V 的宽工作电压范围
  • 5/3.3/2.5/1.8/1.2V V CC 单电源电压转换门
    • TTL 兼容输入:
      • 升压转换:
        • 1.8V – 1.2V 的输入
        • 2.5V – 1.8V 的输入
        • 3.3V – 1.8V、2.5V 的输入
        • 5.0V – 2.5V、3.3V 的输入
      • 降压转换:
        • 1.2V – 1.8V、2.5V、3.3V、 5.0V 的输入
        • 1.8V – 2.5V、3.3V、5.0V 的输入
        • 2.5V – 3.3V、5.0V 的输入
        • 3.3V – 5.0V 的输入
  • 5.5V 容限输入引脚
  • 5V 时,输出驱动高达 25mA
  • 闩锁性能超过 250mA,符合 JESD 17 规范
  • 增强型航天塑料 (SEP)
    • 受控基线
    • 金键合线
    • NiPdAu 铅涂层
    • 一个组装和测试基地
    • 一个制造基地
    • 军用级(-55°C 到 125°C)温度范围
    • 延长了产品生命周期
    • 延长了产品变更通知 (PCN)
    • 产品可追溯性
    • 符合 NASAs ASTM E595 释气规格要求

SN54SC4T08-SEP 包含四个独立的双输入与门。每个逻辑门以正逻辑执行布尔函数 Y = A × B。输出电平以电源电压 (V CC) 为基准,并且支持 1.2V、1.8V、2.5V、3.3V 和 5V CMOS 电平。

该输入经设计,具有较低阈值电路,支持较低电压 CMOS 输入的上行转换(例如 1.2V 输入转换为 1.8V 输出或 1.8V 输入转换为 3.3V 输出)。此外,5V 容限输入引脚可实现下行转换(例如 3.3V 至 2.5V 输出)。

SN54SC4T08-SEP 包含四个独立的双输入与门。每个逻辑门以正逻辑执行布尔函数 Y = A × B。输出电平以电源电压 (V CC) 为基准,并且支持 1.2V、1.8V、2.5V、3.3V 和 5V CMOS 电平。

该输入经设计,具有较低阈值电路,支持较低电压 CMOS 输入的上行转换(例如 1.2V 输入转换为 1.8V 输出或 1.8V 输入转换为 3.3V 输出)。此外,5V 容限输入引脚可实现下行转换(例如 3.3V 至 2.5V 输出)。

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技术文档

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* 数据表 SN54SC4T08-SEP 具有集成式转换功能的耐辐射、1.2V 至 5.5V 四路双输入正与门 数据表 (Rev. A) PDF | HTML 英语版 (Rev.A) PDF | HTML 2023年 8月 16日
* 辐射与可靠性报告 SN54SC4T08-SEP Single Event Latch-Up Report PDF | HTML 2023年 10月 30日
* 辐射与可靠性报告 SN54SC4T08-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2023年 8月 23日
* 辐射与可靠性报告 SN54SC4T08-SEP Total Ionizing Dose Report PDF | HTML 2023年 8月 3日

设计和开发

如需其他信息或资源,请点击以下任一标题进入详情页面查看(如有)。

评估板

14-24-LOGIC-EVM — 采用 14 引脚至 24 引脚 D、DB、DGV、DW、DYY、NS 和 PW 封装的逻辑产品通用评估模块

14-24-LOGIC-EVM 评估模块 (EVM) 旨在支持采用 14 引脚至 24 引脚 D、DW、DB、NS、PW、DYY 或 DGV 封装的任何逻辑器件。

用户指南: PDF | HTML
英语版 (Rev.B): PDF | HTML
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仿真模型

SN54SC4T08-SEP IBIS Model

SBAM502.ZIP (57 KB) - IBIS Model
封装 引脚 下载
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订购和质量

包含信息:
  • RoHS
  • REACH
  • 器件标识
  • 引脚镀层/焊球材料
  • MSL 等级/回流焊峰值温度
  • MTBF/时基故障估算
  • 材料成分
  • 鉴定摘要
  • 持续可靠性监测
包含信息:
  • 制造厂地点
  • 封装厂地点

支持和培训

视频