SN54SC1G175-SEP
- VID V62/26610
- 辐射 - 总电离剂量 (TID):
- TID 特征值高达 50krad (Si)
- TID 性能保证高达 30krad(Si)
- 每个晶圆批次的辐射批次验收测试 (RLAT) 高达 30krad(Si)
- 辐射 - 单粒子效应 (SEE):
- 在 125°C 下,单粒子锁定 (SEL) 抗扰度高达 50MeV-cm2/mg
- 单粒子瞬变 (SET) 额定值高达 LET = 50MeV-cm2/mg
-
1.2V 至 5.5V 的宽工作电压范围
- 5.5V 容限输入引脚
- 支持标准引脚排列
- 速率高达 150Mbps,具有 5V 或 3.3V VCC
- 闩锁性能超过 100mA,符合 JESD 78 规范
- 增强型航天塑料:
- 支持国防与航空航天应用
- 受控基线
- Au 键合线和 NiPdAu 铅涂层
- 符合 NASA ASTM E595 释气规格要求
- 制造、封装测试一体化基地
- 延长了产品生命周期
- 产品可追溯性
SN54SC1G175-SEP 器件是一款单路 D 型触发器,具有异步清零 (CLR) 输入。CLR 为高电平时,输入引脚 (D) 上的数据将在时钟 (CLK) 的上升沿传输到输出引脚 (Q)。CLR 为低电平时,将强制 Q 进入低电平状态,而不受时钟边沿和 D 引脚数据的影响。
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查看全部 4 | 顶层文档 | 类型 | 标题 | 格式选项 | 下载最新的英语版本 | 日期 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 数据表 | 具有异步清零功能的 SN54SC1G175-SEP 单路 D 型触发器 数据表 | PDF | HTML | 2026年 1月 26日 | ||
| * | 辐射与可靠性报告 | SN54SC1G175-SEP Production Flow and Reliability Report | PDF | HTML | 2026年 2月 6日 | ||
| * | 辐射与可靠性报告 | SN54SC1G175-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report | PDF | HTML | 2026年 2月 6日 | ||
| * | 辐射与可靠性报告 | SN54SC1G175-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report | 2026年 2月 6日 |
设计与开发
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评估板
5-8-LOGIC-EVM — 支持 5 至 8 引脚 DCK、DCT、DCU、DRL 和 DBV 封装的通用逻辑评估模块
灵活的 EVM 设计用于支持具有 5 至 8 引脚数且采用 DCK、DCT、DCU、DRL 或 DBV 封装的任何器件。
用户指南: PDF
| 封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
|---|---|---|
| SOT-23 (DBV) | 6 | Ultra Librarian |
订购和质量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件标识
- 引脚镀层/焊球材料
- MSL 等级/回流焊峰值温度
- MTBF/时基故障估算
- 材料成分
- 鉴定摘要
- 持续可靠性监测
包含信息:
- 制造厂地点
- 封装厂地点