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Number of channels 4 Technology family ACT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 114 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Supply current (max) (µA) 80 Features Balanced outputs, Positive input clamp diode, Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog
Number of channels 4 Technology family ACT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 114 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Supply current (max) (µA) 80 Features Balanced outputs, Positive input clamp diode, Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog
PDIP (N) 16 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6
  • Inputs Are TTL-Voltage Compatible
  • Contains Four Flip-Flops With Double-Rail Outputs
  • Buffered Inputs
  • Speed of Bipolar F, AS, and S, With Significantly Reduced Power Consumption
  • Balanced Propagation Delays
  • ±24-mA Output Drive Current
    • Fanout to 15 F Devices
  • SCR-Latchup-Resistant CMOS Process and Circuit Design
  • Exceeds 2-kV ESD Protection Per MIL-STD-883, Method 3015
  • Applications Include:
    • Buffer/Storage Registers
    • Shift Registers
    • Pattern Generators

  • Inputs Are TTL-Voltage Compatible
  • Contains Four Flip-Flops With Double-Rail Outputs
  • Buffered Inputs
  • Speed of Bipolar F, AS, and S, With Significantly Reduced Power Consumption
  • Balanced Propagation Delays
  • ±24-mA Output Drive Current
    • Fanout to 15 F Devices
  • SCR-Latchup-Resistant CMOS Process and Circuit Design
  • Exceeds 2-kV ESD Protection Per MIL-STD-883, Method 3015
  • Applications Include:
    • Buffer/Storage Registers
    • Shift Registers
    • Pattern Generators

This positive-edge-triggered D-type flip-flop has a direct clear (CLR)\ input. The CD74ACT175 features complementary outputs from each flip-flop.

Information at the data (D) inputs meeting the setup time requirements is transferred to the outputs on the positive-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a particular voltage level and is not directly related to the transition time of the positive-going edge of CLK. When CLK is at either the high or low level, the D input has no effect at the output.

This positive-edge-triggered D-type flip-flop has a direct clear (CLR)\ input. The CD74ACT175 features complementary outputs from each flip-flop.

Information at the data (D) inputs meeting the setup time requirements is transferred to the outputs on the positive-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a particular voltage level and is not directly related to the transition time of the positive-going edge of CLK. When CLK is at either the high or low level, the D input has no effect at the output.

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设计和开发

如需其他信息或资源,请点击以下任一标题进入详情页面查看(如有)。

评估板

14-24-LOGIC-EVM — 采用 14 引脚至 24 引脚 D、DB、DGV、DW、DYY、NS 和 PW 封装的逻辑产品通用评估模块

14-24-LOGIC-EVM 评估模块 (EVM) 旨在支持采用 14 引脚至 24 引脚 D、DW、DB、NS、PW、DYY 或 DGV 封装的任何逻辑器件。

用户指南: PDF | HTML
英语版 (Rev.B): PDF | HTML
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包含信息:
  • 制造厂地点
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