ZHDS020 December   2025 UCD91160

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 引脚配置和功能
  6. 5 规格
    1. 5.1 绝对最大额定值
    2. 5.2 ESD 等级
    3. 5.3 建议运行条件
    4. 5.4 热性能信息
    5. 5.5 电气特性
    6. 5.6 线性参数
    7. 5.7 POR 和 BOR
    8. 5.8 低频晶体/时钟
    9. 5.9 闪存特性
  7. 6 详细说明
    1. 6.1 概述
    2. 6.2 功能方框图
    3. 6.3 特性说明
      1. 6.3.1 TI Sequencer Studio 软件
      2. 6.3.2 PMBUS 接口
      3. 6.3.3 PMBUS 安全性
    4. 6.4 器件功能模式
      1. 6.4.1 黑盒首次故障记录
      2. 6.4.2 PMBUS 地址选择
      3. 6.4.3 欠压
  8. 7 应用和实施
    1. 7.1 应用信息
    2. 7.2 典型应用
      1. 7.2.1 设计要求
      2. 7.2.2 详细设计过程
      3. 7.2.3 应用曲线
    3. 7.3 电源相关建议
    4. 7.4 布局
      1. 7.4.1 布局指南
      2. 7.4.2 布局示例
  9. 8 器件和文档支持
    1. 8.1 接收文档更新通知
    2. 8.2 支持资源
    3. 8.3 商标
    4. 8.4 静电放电警告
    5. 8.5 术语表
  10. 9 修订历史记录
  11. 10机械、封装和可订购信息

5.9 闪存特性

在自然通风条件下的工作温度范围内测得（除非另有说明）
参数测试条件最小值典型值最大值单位
电源
IDDERASE擦除操作期间从 VDD 获得的电源电流电源电流差值10mA
IDDPGM编程操作期间从 VDD 获得的电源电流电源电流差值10mA
耐久性
NWEC擦除/编程周期耐久性10k 个周期
NE(MAX)发生故障前的总擦除操作 (1)802K 擦除操作
保持
tRET_85闪存存储器数据保留-40°C <= Tj <= 85°C60年
tRET_105闪存存储器数据保留-40°C <= Tj <= 105°C11.4年
tRET_130闪存存储器数据保留-40°C <= Tj <= 130°C2.4年

故障和事件记录

NF

发生故障前的故障事件记录总数

64

百万级事件日志

(1) 发生故障前闪存支持的累计擦除操作总数。一次扇区擦除或组擦除操作被视为一次擦除操作。