ZHCZ051F November   2024  – August 2026 F29H850DM , F29H850TU , F29H859TU-Q1 , F29P329SM-Q1 , F29P589DM-Q1 , F29P589DU-Q1

 

  1.   1
  2.   F29H85x、F29P58x 和 F29P32x MCU 器件勘误表器件修订版本 A、0
  3. 1使用说明和公告模型
    1. 1.1 使用说明汇总表
    2. 1.2 公告汇总表
  4. 2命名规则、封装编号法和修订版本标识
    1. 2.1 器件和开发支持工具命名规则
    2. 2.2 支持的器件
    3. 2.3 封装编号法和修订版本标识
  5. 3器件修订版本 B 使用说明和公告
    1. 3.1 器件修订版本 B 使用说明
    2. 3.2 器件修订版本 B 公告
      1.      公告
      2.      公告
      3. 3.2.1  公告
      4.      公告
      5.      公告
      6. 3.2.2  公告
      7. 3.2.3  公告
      8. 3.2.4  公告
      9. 3.2.5  公告
      10. 3.2.6  公告
      11. 3.2.7  公告
      12.      公告
      13. 3.2.8  公告
      14.      公告
      15.      公告
      16.      公告
      17. 3.2.9  公告
      18. 3.2.10 公告
      19. 3.2.11 公告
  6. 4器件修订版本 A 使用说明和公告
    1. 4.1 器修订版本 A 使用说明
      1. 4.1.1 安全性：在器件修订版本 B 器件上编程的新 TI 密钥
    2. 4.2 器件修订版本 A 公告
      1. 4.2.1 公告
      2. 4.2.2 公告
      3. 4.2.3 公告
      4. 4.2.4 公告
      5. 4.2.5 公告
      6.      公告
      7.      公告
      8. 4.2.6 公告
  7. 5器件修订版本 0 使用说明和公告
    1. 5.1 器件修订版本 0 使用说明
    2. 5.2 器件修订版本 0 公告
      1. 5.2.1 公告
      2. 5.2.2 公告
  8. 6文档支持
  9. 7商标
  10. 8修订历史记录

公告

ADC：使用内部 VREF 的 16 位转换模式下的峰值代码跳变

受影响版本

0、A、B、C

详细信息

在使用内部 VREF 模式的 16 位 ADC 转换中，20 秒内可能至少发生一次代码跳变。代码跳变幅度可以近似为 110 个代码 * (VIN/VREF)。当采样信号振幅 VIN 接近 VREFHI 电平时，会观察到峰值代码跳变。在外部 VREF 模式下未观察到此代码跳变。在外部 VREF 模式下未观察到代码跳变。在 12 位转换模式下也不会观察到该情况。

解决方法

如果选择 16 位 ADC 内部 VREF 模式，那么在应用条件允许时，可执行过采样转换或采用平均滤波，以大幅降低代码跳变带来的影响。另一个选择是使用外部 VREF。