ZHCUBE1 October   2023

 

  1.   1
  2.   说明
  3.   特性
  4.   4
  5. 1评估模块概述
    1. 1.1 引言
    2. 1.2 套件内容
    3. 1.3 规格
    4. 1.4 器件信息
  6. 2硬件
    1. 2.1 EVM 连接器
      1. 2.1.1 EVM 跳线
      2. 2.1.2 EVM 测试点
    2. 2.2 EVM 设置和操作
      1. 2.2.1 输入电源电压 (VDD)
      2. 2.2.2 SENSE
      3. 2.2.3 RESET
      4. 2.2.4 内置自检 (BIST)
      5. 2.2.5 内置自检使能和锁存器清除 (BIST_EN/LATCH_CLR)
      6. 2.2.6 RESET 延时时间 (CTR)
      7. 2.2.7 检测延时时间 (CTS)
  7. 3实现结果
    1. 3.1 EVM 性能结果
  8. 4硬件设计文件
    1. 4.1 原理图
    2. 4.2 PCB 布局
    3. 4.3 物料清单
  9. 5其他信息
    1.     商标

2.2.5 内置自检使能和锁存器清除 (BIST_EN/LATCH_CLR)

BIST_EN/LATCH_CLR 通过电路板上的 TP4 连接。跳线 J11 还可以配置 BIST_EN/LATCH_CLR 引脚以连接到 TP11（有关配置选项，请参阅表 3-1）。TPS3762-Q1 系列器件包含一个内置自检使能和锁存器清除 (BIST_EN/LATCH_CLR) 引脚，用于启用 BIST 以及清除 BIST 故障。BIST_EN 会将 BIST 置为有效，持续时间为 TD_BIST。如果 BIST 遇到故障，则 BIST 保持置位的时间将长于 TD_BIST。LATCH_CLR 需要一个上升沿来清除 BIST 引脚上标记的故障。有关更多详细信息，请参阅器件数据表。