ZHCSTR8A June   2025  – December 2025 TPSI2260-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特性
  3. 应用
  4. 说明
  5. 器件比较表
  6. 引脚配置和功能
  7. 规格
    1. 6.1  绝对最大额定值
    2. 6.2  ESD 等级
    3. 6.3  建议运行条件
    4. 6.4  热性能信息
    5. 6.5  功率等级
    6. 6.6  绝缘规格
    7. 6.7  安全相关认证
    8. 6.8  安全限值
    9. 6.9  电气特性
    10. 6.10 开关特性
    11. 6.11 典型特性
  8. 参数测量信息
  9. 详细说明
    1. 8.1 概述
    2. 8.2 功能方框图
    3. 8.3 特性说明
      1. 8.3.1 雪崩稳健性
    4. 8.4 器件功能模式
  10. 应用和实施
    1. 9.1 应用信息
    2. 9.2 典型应用
      1. 9.2.1 电介质耐受测试 (HiPot)
      2. 9.2.2 设计要求
      3. 9.2.3 详细设计过程 – 底盘接地参考
      4. 9.2.4 应用性能曲线图
    3. 9.3 电源相关建议
    4. 9.4 布局
      1. 9.4.1 布局指南
      2. 9.4.2 布局示例
  11. 10器件和文档支持
    1. 10.1 第三方产品免责声明
    2. 10.2 接收文档更新通知
    3. 10.3 支持资源
    4. 10.4 商标
    5. 10.5 静电放电警告
    6. 10.6 术语表
  12. 11修订历史记录
  13. 12机械、封装和可订购信息

布局指南

组件放置:

用于初级侧 VDD 电源的去耦电容器必须尽可能靠近器件引脚放置。

EMI 注意事项:

TPSI2260-Q1 采用具有 2MHz 功率传输频率的展频调制 (SSM) 来提高其 EMI 能力。在大多数应用中,无需考虑额外的系统设计注意事项即可满足 CISPR 25 5 类标准性能要求。

如果次级侧需要 CISPR25 5 类,建议使用分裂限流电阻器配置以获得最佳 EMI 性能,如 TPSI2260-Q1 布局示例所示。

ESD 注意事项:

无需其他元件即可通过 IEC 61000-4-2 标准的最高 6kV 接触测试。

如果需要大于 6kV 的接触冲击,分阻配置会将 ESD 性能提高到大于 8kV 的接触。或者,可以在初级侧和次级侧之间添加 ESD 电容器,以提高非分裂电阻架构中的 ESD 性能。

高电压注意事项:

应根据系统要求,保持 TPSI2260-Q1 从初级侧到次级侧的爬电距离和从 S1 引脚到 S2 引脚的爬电距离。系统设计人员很可能会避免在封装主体下方或 S1、SM 和 S2 引脚之间进行任何顶层 PCB 布线。