ZHCSJJ2C March   2019  – September 2025 BQ27Z561-R1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 引脚配置和功能
  6. 5 规格
    1. 5.1  绝对最大额定值
    2. 5.2  ESD 等级
    3. 5.3  建议运行条件
    4. 5.4  热性能信息
    5. 5.5  电源电流
    6. 5.6  内部 1.8V LDO (REG18)
    7. 5.7  I/O（PULS，INT）
    8. 5.8  芯片使能 (CE)
    9. 5.9  内部温度传感器
    10. 5.10 NTC 热敏电阻测量支持
    11. 5.11 库仑计 (CC)
    12. 5.12 模数转换器 (ADC)
    13. 5.13 内部振荡器规格
    14. 5.14 电压基准 1 (REF1)
    15. 5.15 电压基准 2 (REF2)
    16. 5.16 闪存存储器
    17. 5.17 I2C I/O
    18. 5.18 I2C 时序 - 100kHz
    19. 5.19 I2C 时序 - 400kHz
    20. 5.20 HDQ 时序
    21. 5.21 典型特性
  7. 6 详细说明
    1. 6.1 概述
    2. 6.2 功能方框图
    3. 6.3 特性说明
      1. 6.3.1  BQ27Z561-R1 处理器
      2. 6.3.2  电池参数测量
        1. 6.3.2.1 库仑计 (CC)
        2. 6.3.2.2 CC 数字滤波器
        3. 6.3.2.3 ADC 多路复用器
        4. 6.3.2.4 模数转换器 (ADC)
        5. 6.3.2.5 内部温度传感器
        6. 6.3.2.6 外部温度传感器支持
      3. 6.3.3  电源控制
      4. 6.3.4  总线通信接口
      5. 6.3.5  低频振荡器
      6. 6.3.6  高频振荡器
      7. 6.3.7  1.8V 低压降稳压器
      8. 6.3.8  内部基准电压
      9. 6.3.9  Gas Gauging
      10. 6.3.10 充电控制特性
      11. 6.3.11 身份验证
    4. 6.4 器件功能模式
      1. 6.4.1 终身记录特性
      2. 6.4.2 配置
        1. 6.4.2.1 以库仑为单位计
        2. 6.4.2.2 电池电压测量
        3. 6.4.2.3 自动校准
        4. 6.4.2.4 温度测量
  8. 7 应用和实施
    1. 7.1 应用信息
    2. 7.2 典型应用
      1. 7.2.1 设计要求（默认）
      2. 7.2.2 详细设计过程
        1. 7.2.2.1 更改设计参数
      3. 7.2.3 校准过程
      4. 7.2.4 监测数据更新
        1. 7.2.4.1 应用曲线
    3. 7.3 电源要求
    4. 7.4 布局
      1. 7.4.1 布局指南
      2. 7.4.2 布局示例
  9. 8 器件和文档支持
    1. 8.1 文档支持
      1. 8.1.1 相关文档
    2. 8.2 接收文档更新通知
    3. 8.3 支持资源
    4. 8.4 商标
    5. 8.5 静电放电警告
    6. 8.6 术语表
  10. 9 修订历史记录
  11. 10机械、封装和可订购信息

8.5 静电放电警告

BQ27Z561-R1 静电放电 (ESD) 会损坏这个集成电路。德州仪器 (TI) 建议通过适当的预防措施处理所有集成电路。如果不遵守正确的处理和安装程序，可能会损坏集成电路。
ESD 的损坏小至导致微小的性能降级，大至整个器件故障。精密的集成电路可能更容易受到损坏，这是因为非常细微的参数更改都可能会导致器件与其发布的规格不相符。