• Menu
  • Product
  • Email
  • PDF
  • Order now
  • CSD18504Q5A 40V N 沟道 NexFET 功率 MOSFET

    • ZHCS977F June   2012  – January 2025 CSD18504Q5A

      PRODUCTION DATA  

  • CONTENTS
  • SEARCH
  • CSD18504Q5A 40V N 沟道 NexFET 功率 MOSFET
  1.   1
  2. 1特性
  3. 2应用
  4. 3说明
  5. 4Specifications
    1. 4.1 Electrical Characteristics
    2. 4.2 Thermal Information
    3. 4.3 Typical MOSFET Characteristics
  6. 5Device and Documentation Support
    1. 5.1 第三方产品免责声明
    2. 5.2 Documentation Support
      1. 5.2.1 Related Documentation
    3. 5.3 接收文档更新通知
    4. 5.4 支持资源
    5. 5.5 Trademarks
    6. 5.6 静电放电警告
    7. 5.7 术语表
  7. 6Revision History
  8. 7Mechanical, Packaging, and Orderable Information
  9. 重要声明
search No matches found.
  • Full reading width
    • Full reading width
    • Comfortable reading width
    • Expanded reading width
  • Card for each section
  • Card with all content

 

Data Sheet

CSD18504Q5A 40V N 沟道 NexFET 功率 MOSFET

本资源的原文使用英文撰写。 为方便起见,TI 提供了译文;由于翻译过程中可能使用了自动化工具,TI 不保证译文的准确性。 为确认准确性,请务必访问 ti.com 参考最新的英文版本(控制文档)。

下载最新的英语版本

1 特性

  • 超低 Qg 和 Qgd
  • 低热阻
  • 具有雪崩能力
  • 逻辑电平
  • 无铅引脚镀层
  • 符合 RoHS
  • 无卤素
  • SON 5mm × 6mm 塑料封装

2 应用

  • 直流/直流转换
  • 次级侧同步整流器
  • 电池电机控制

3 说明

这款 5.3mΩ、SON 5mm × 6mm、40V NexFET™ 功率 MOSFET 旨在用于更大限度地降低功率转换应用中的损耗。

CSD18504Q5A 顶视图顶视图
产品概要
TA = 25°C 典型值 单位
VDS 漏源电压 40 V
Qg 栅极电荷总量 (4.5V) 7.7 nC
Qgd 栅极电荷(栅极到漏极) 2.4 nC
RDS(on) 漏源导通电阻 VGS = 4.5V 7.5 mΩ
VGS = 10V 5.3 mΩ
VGS(th) 阈值电压 1.9 V
订购信息(1)
器件数量介质封装运输
CSD18504Q5A250013 英寸卷带SON 5mm × 6mm 塑料封装卷带包装
CSD18504Q5AT2507 英寸卷带
(1) 如需了解所有可用封装,请参阅数据表末尾的可订购产品附录。
绝对最大额定值
TA = 25°C值单位
VDS漏源电压40V
VGS栅源电压±20V
ID持续漏极电流(受封装限制)50A
持续漏极电流(受器件限制),TC = 25°C 时测得75
持续漏极电流(1)15
IDM脉冲漏极电流(2)275A
PD功率耗散(1)3.1W
功率耗散,TC = 25°C77
TJ、
Tstg
工作结温和
贮存温度范围
-55 至 150°C
EAS雪崩能量,单脉冲
ID = 43A,L = 0.1mH,RG = 25Ω
92mJ
(1) RθJA = 40°C/W,这是在 1 平方英寸的情况下,2 盎司铜焊盘安装在
0.06 英寸厚的 FR4 PCB 上时测得的典型值。
(2) 最大 RθJC = 2.0°C/W,脉冲持续时间 ≤ 100μs,占空比
≤ 1%
CSD18504Q5A RDS(on) 与 VGS 之间的关系RDS(on) 与 VGS 之间的关系
CSD18504Q5A 栅极电荷栅极电荷

4 Specifications

4.1 Electrical Characteristics

(TA = 25°C unless otherwise stated)
PARAMETERTEST CONDITIONSMINTYPMAXUNIT
STATIC CHARACTERISTICS
BVDSSDrain-to-Source VoltageVGS = 0V, ID = 250μA40V
IDSSDrain-to-Source Leakage CurrentVGS = 0V, VDS = 32V1μA
IGSSGate-to-Source Leakage CurrentVDS = 0V, VGS = 20V100nA
VGS(th)Gate-to-Source Threshold VoltageVDS = VGS, ID = 250μA1.51.92.4V
RDS(on)Drain-to-Source On-ResistanceVGS = 4.5V, ID = 17A7.59.8mΩ
VGS = 10V, ID = 17A5.36.6mΩ
gfsTransconductanceVDS = 20V, ID = 17A71S
DYNAMIC CHARACTERISTICS
CissInput CapacitanceVGS = 0V, VDS = 20V, ƒ = 1MHz13801656pF
CossOutput Capacitance310372pF
CrssReverse Transfer Capacitance89.6pF
RGSeries Gate Resistance1.42.8Ω
QgGate Charge Total (4.5V)VDS = 20V, ID = 17A7.79.2nC
QgGate Charge Total (10V)1619
QgdGate Charge Gate-to-Drain2.4nC
QgsGate Charge Gate-to-Source3.2nC
Qg(th)Gate Charge at Vth2.2nC
QossOutput ChargeVDS = 20V, VGS = 0V21nC
td(on)Turn On Delay TimeVDS = 20V, VGS = 10V,
IDS = 17A, RG = 0Ω
3.2ns
trRise Time6.8ns
td(off)Turn Off Delay Time12ns
tfFall Time2ns
DIODE CHARACTERISTICS
VSDDiode Forward VoltageISD = 17A, VGS = 0V0.81V
QrrReverse Recovery ChargeVDS= 20V, IF = 17A,
di/dt = 300A/μs
39nC
trrReverse Recovery Time28ns

 

Texas Instruments

© Copyright 1995-2025 Texas Instruments Incorporated. All rights reserved.
Submit documentation feedback | IMPORTANT NOTICE | Trademarks | Privacy policy | Cookie policy | Terms of use | Terms of sale