5 结论

本文中提到的两个问题里面FB 引脚上的尖峰主要是由于测试的方式引起，在测试时应当留意SW或者其他同一个板上的高频信号的辐射耦合，从而能够更好的屏蔽测试过程引入的干扰，更好地观测器件真实的使用情况。

而由于低侧二极管的选型及整体电路设计不同，BOOT 电容意外充电的问题很少出现。但在设计时了解此问题是有益的，以便将 BOOT 电压保持在正常范围内，使器件可以长时间使用。尤其在选择低侧二极管时，具有快速恢复时间和较小寄生电容的二极管在布局中可能导致压摆率高于 3V/ns，进而引起自举电容过充，导致效率降低和静态电流增大。只要自举电压无意外过充的情况，TPS54561的可靠性可以支持长期正常工作。