2 常规OC问题分析以及解决方案

在应用中遇到 OCP（过流保护）问题时，首先应排查测试方法是否准确。功放的过流检测机制是通过检测半桥输出级 MOS 管中流过的电流来实现的，因此建议优先使用示波器电流探头，对 SW 引脚至电感之间路径上的电流进行测量。常见的测试方法是将电感靠近芯片一端的引脚翘起，在此处进行电流测量。这是因为该测试点的电流波形最能真实反映芯片内部的实际电流状态，测量结果更加可靠。

对于 OCP 触发时刻的电流抓取，通常有两种方式：一种是以芯片 FAULT 引脚的信号作为示波器触发源；另一种是将示波器设置为 Roll（扫描）模式，通过捕捉电流峰值来定位异常时刻。在完成上述正确的硬件测量后，若能确认 FAULT 的原因确实为 OCP 触发，且硬件现象与寄存器报错一致，则需进一步从软件配置和硬件设计两个维度排查电流过大的根本原因。