ZHCAF16
February 2025
BQ76942
,
BQ76952
1
摘要
商标
1
简介
2
硬件设置
3
CRC 和校验和编程及示例命令
3.1
CRC 计算示例
3.2
校验和计算示例
4
OTP 编程示例
4.1
配置进入密封模式的编程步骤
4.2
OTP 编程流程图
4.3
OTP 逐步命令示例
5
总结
6
参考资料
4.1
配置进入密封模式的编程步骤
通过读取其中一个已编程寄存器,检查器件上是否已完成 OTP 编程。通电时,寄存器报告默认值或 OTP 中编程的值(如果 OTP 已编程)。如果尚未完成 OTP 编程,则转至后续步骤。
读取 0x12 电池状态 [SEC1,SEC0] 位,以验证器件是否处于完全访问模式 (0x01)。
如果器件处于完全访问模式,则进入 CONFIG_UPDATE 模式-(子命令 0x0090)。如果未进入该模式,请解封器件,然后返回步骤二检查器件是否处于完全访问模式。
在数据存储器中配置寄存器设置。
退出 CONFIG_UPDATE 模式 -(子命令 0x0092)。
读取数据存储器寄存器以验证所有参数均已成功写入。
进入 CONFIG_UPDATE 模式。
检查电池状态 [OTPB] 位是否清除,以验证是否满足 OTP 编程条件。
读取 OTP_WR_CHECK()(子命令 0x00A0)。如果返回值为 0x80,则满足 OTP 编程条件。
如果 OTP_WR_CHECK 指示满足条件,则发送 OTP_WRITE() 子命令 (0x00A1)。
等待 100 ms。从 0x40 读取以检查 OTP 编程是否成功(0x80 表示成功)。
进入密封模式。
退出 CONFIG_UPDATE 模式 -(子命令 0x0092)。