BW 頻率比 LDO BW 更寬的頻譜分析器通常用於測量 LDO 的雜訊。頻譜分析器與 LDO 類似，其內部雜訊稱為分析器雜訊基準（靈敏度）。分析器的雜訊基準（嚴格來說稱為顯示的平均雜訊位準 – DANL）是分析器產品規格表中，在其頻率 BW 範圍內的關鍵規格。在進行任何雜訊測量之前，測量分析器的雜訊基準並進行記錄至關重要，如參考資料 [2] 部分中所述。

若要測量任何分析器的雜訊基準，只需在所需雜訊測量 BW 的多個平均值下，以分析器可用的最低解析度頻寬 (RBW) 設定執行頻率掃頻。測量到的雜訊曲線（雜訊基準）是分析器在該 BW 上所能解析的最低雜訊。了解此雜訊位準後，即可確定使用此類分析器來測量 LDO 的雜訊（DUT 雜訊）。

為了在 LDO 的 BW 運作下保持雜訊測量準確度高於 95%，LDO 的雜訊曲線必須比分析器的雜訊基準曲線高 10dB，如圖 1-2所示。

圖 1-2 典型 LDO 雜訊與典型頻譜分析器雜訊基準的比較

分析器與 LDO 雜訊之間的這種 10dB（或 3.16V/V）增益，透過將曲線結合為兩個不相關雜訊來源，即可實現 95% 準確度。如果一個來源 (LDO) 比另一個來源（分析器）高 3.16(V/V)，則產生的總雜訊中，超過 95% 由較高的來源主導，如方程式 1中所示：

鑑於雜訊現象的隨機特性，對 LDO 的任何雜訊測量而言，95% 的準確度選擇是合理的。如果裕度低於 10dB，則會導致在 LDO 的 BW 衰減時測量的準確度較低，如圖 1-2中所示。當圖 1-2中的 LDO 雜訊（紅色曲線）接近頻譜分析器雜訊基準（綠色曲線）時，雜訊量測就會不正確，並顯著受頻譜分析器雜訊影響。這種平坦的雜訊不是 LDO 的雜訊，而是 LDO 和分析器的雜訊組合，主要受分析器雜訊基準的影響。

分析器的內部電路可能會影響測得的 DUT 雜訊，但是導致的雜訊等於或接近雜訊的最小絕對值 -174dBm/Hz。這種極低的雜訊位準是熱雜訊位準（功率）；接下來將詳細檢視分析器和 LDO (DUT) 的雜訊位準。

圖 1-3顯示超低雜訊 LDO 的雜訊曲線，其比典型頻譜分析器的雜訊基準低 10dB 以上。那麼，問題是如何測量這款超低雜訊 LDO？

圖 1-3 LDO 的超低雜訊與典型頻譜分析器的雜訊基準之比較

解決方案相對簡單，使用一種放大器，可以將 LDO 的雜訊增益至高於分析器雜訊基準 10dB（或更高），如此我們就能測量 LDO 雜訊。少數頻譜分析器配備適用這類低雜訊訊號的內建前置放大器，但前置放大器的增益限制通常低於 40dB，而這些前置放大器的 BW 則通常在 1kHz 或更高點起步。

但如果需要更多增益，且測量必須以較低的頻率開始，該怎麼辦？

下節討論 BW 為 10Hz-10MHz 之更高增益放大器的設計需求。