ZHCSHO7A February   2018  – September 2018 TMUX6104

PRODUCTION DATA.  

  1. 特性
  2. 应用
  3. 说明
    1.     Device Images
      1.      简化原理图
  4. 修订历史记录
  5. Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  6. Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Thermal Information
    4. 6.4 Recommended Operating Conditions
    5. 6.5 Electrical Characteristics (Dual Supplies: ±15 V)
    6. 6.6 Switching Characteristics (Dual Supplies: ±15 V)
    7. 6.7 Electrical Characteristics (Single Supply: 12 V)
    8. 6.8 Switching Characteristics (Single Supply: 12 V)
    9. 6.9 Typical Characteristics
  7. Parameter Measurement Information
    1. 7.1 Truth Table
  8. Detailed Description
    1. 8.1 Overview
      1. 8.1.1  On-Resistance
      2. 8.1.2  Off-Leakage Current
      3. 8.1.3  On-Leakage Current
      4. 8.1.4  Transition Time
      5. 8.1.5  Break-Before-Make Delay
      6. 8.1.6  Turn-On and Turn-Off Time
      7. 8.1.7  Charge Injection
      8. 8.1.8  Off Isolation
      9. 8.1.9  Channel-to-Channel Crosstalk
      10. 8.1.10 Bandwidth
      11. 8.1.11 THD + Noise
      12. 8.1.12 AC Power Supply Rejection Ratio (AC PSRR)
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 Ultralow Leakage Current
      2. 8.3.2 Ultralow Charge Injection
      3. 8.3.3 Bidirectional and Rail-to-Rail Operation
    4. 8.4 Device Functional Modes
  9. Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
    2. 9.2 Typical Application
      1. 9.2.1 Design Requirements
      2. 9.2.2 Detailed Design Procedure
      3. 9.2.3 Application Curve
  10. 10Power Supply Recommendations
  11. 11Layout
    1. 11.1 Layout Guidelines
    2. 11.2 Layout Example
  12. 12器件和文档支持
    1. 12.1 文档支持
      1. 12.1.1 相关文档
    2. 12.2 接收文档更新通知
    3. 12.3 社区资源
    4. 12.4 商标
    5. 12.5 静电放电警告
    6. 12.6 术语表
  13. 13机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

静电放电警告

esds-image

ESD 可能会损坏该集成电路。德州仪器 (TI) 建议通过适当的预防措施处理所有集成电路。如果不遵守正确的处理措施和安装程序 , 可能会损坏集成电路。

ESD 的损坏小至导致微小的性能降级 , 大至整个器件故障。 精密的集成电路可能更容易受到损坏 , 这是因为非常细微的参数更改都可能会导致器件与其发布的规格不相符。