ZHCSYG4A March   2007  – June 2025 TLC372-EP

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1特性
  3. 2说明
  4.   订购信息
  5. 3规格
    1. 3.1 绝对最大额定值
    2. 3.2 建议运行条件
    3. 3.3 电气特性
    4. 3.4 开关特性
    5. 3.5 典型特性
  6. 4详细说明
    1. 4.1 概述
    2. 4.2 功能方框图
    3. 4.3 特性说明
    4. 4.4 器件功能模式
      1. 4.4.1 输入
      2. 4.4.2 ESD 保护
      3. 4.4.3 未使用的输入
      4. 4.4.4 开漏输出
      5. 4.4.5 迟滞
  7. 5应用和实施
    1. 5.1 应用信息
      1. 5.1.1 基本的比较器定义
        1. 5.1.1.1 运行
        2. 5.1.1.2 传播延迟
        3. 5.1.1.3 过驱动和欠驱动电压
    2. 5.2 典型应用
      1. 5.2.1 窗口比较器
        1. 5.2.1.1 设计要求
        2. 5.2.1.2 详细设计过程
        3. 5.2.1.3 应用曲线
    3. 5.3 电源相关建议
    4. 5.4 布局
      1. 5.4.1 布局指南
      2. 5.4.2 布局示例
  8. 6器件和文档支持
    1. 6.1 文档支持
      1. 6.1.1 相关文档
    2. 6.2 接收文档更新通知
    3. 6.3 支持资源
    4. 6.4 商标
    5. 6.5 静电放电警告
    6. 6.6 术语表
  9. 7修订历史记录
  10. 8机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

6.5 静电放电警告

TLC372-EP 静电放电 (ESD) 会损坏这个集成电路。德州仪器 (TI) 建议通过适当的预防措施处理所有集成电路。如果不遵守正确的处理和安装程序，可能会损坏集成电路。
ESD 的损坏小至导致微小的性能降级，大至整个器件故障。精密的集成电路可能更容易受到损坏，这是因为非常细微的参数更改都可能会导致器件与其发布的规格不相符。