ZHCSXJ2A September 2024 – March 2025 REF80
PRODUCTION DATA
埋入式齐纳基准通常具有非常高的长期稳定性,从而用作系统内部校准的超稳定基准。长期稳定性值在典型设置下进行测试,该设置反映了器件周围应变调制结构基准的标准 PCB 电路板制造实践。电路板采用标准 FR4 材料制成,覆铜厚度为 35µm。器件已通过标准回流进行焊接。
长期稳定性设置经过精心设计,以最大限度地减小热电偶误差、应变和机械振动对长期稳定性测量的影响。电路板放置在空气流动烤箱中,温度保持在 25°C,加热器温度在通电状态下设置为 115°C,以进行长期稳定性测量。
典型的长期稳定性特性表示为一段时间内的偏差。图 8-1 展示了 VREF_Z 在 0 到 1000 小时内的典型漂移值为 3ppm。REF80 的漂移在 1000 小时后趋于稳定。室温下的上电老化有助于 REF80 实现最佳的长期稳定性能。
下电上电对 VREF_Z 的稳定性影响极小,不会改变已稳定的曲线。图 8-2 显示了器件断电 24 小时后的输出行为。