ZHCSDV6E May   2009  – July 2015 LM57

PRODUCTION DATA.  

  1. 特性
  2. 应用范围
  3. 说明
  4. 修订历史记录
  5. Device Comparison Table
  6. Pin Configuration and Functions
  7. Specifications
    1. 7.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 7.2 ESD Ratings
    3. 7.3 Recommended Operating Conditions
    4. 7.4 Thermal Information
    5. 7.5 Electrical Characteristics - Accuracy Characteristics - Trip Point Accuracy
    6. 7.6 Electrical Characteristics - Accuracy Characteristics - VTEMP Analog Temperature Sensor Output Accuracy
    7. 7.7 Electrical Characteristics
    8. 7.8 Switching Characteristics
    9. 7.9 Typical Characteristics
  8. Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 LM57 VTEMP Temperature-to-Voltage Transfer Function
        1. 8.3.1.1 LM57 VTEMP Voltage-to-Temperature Equations
      2. 8.3.2 RSENSE
      3. 8.3.3 Resistor Selection
      4. 8.3.4 TOVER and TOVER Digital Outputs
        1. 8.3.4.1 TOVER and TOVER Noise Immunity
      5. 8.3.5 Trip Test Digital Input
      6. 8.3.6 VTEMP Analog Temperature Sensor Output
        1. 8.3.6.1 VTEMP Noise Considerations
        2. 8.3.6.2 VTEMP Capacitive Loads
        3. 8.3.6.3 VTEMP Voltage Shift
    4. 8.4 Device Functional Modes
  9. Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
      1. 9.1.1 ADC Input Considerations
    2. 9.2 Typical Application
      1. 9.2.1 Design Requirements
      2. 9.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 9.2.2.1 Selection of RSENSE Resistors
      3. 9.2.3 Application Curves
      4. 9.2.4 Grounding of the TRIP TEST Pin
  10. 10Power Supply Recommendations
  11. 11Layout
    1. 11.1 Layout Guidelines
    2. 11.2 Layout Example
    3. 11.3 Temperature Considerations
  12. 12器件和文档支持
    1. 12.1 文档支持
      1. 12.1.1 相关文档
    2. 12.2 社区资源
    3. 12.3 商标
    4. 12.4 静电放电警告
    5. 12.5 Glossary
  13. 13机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

1 特性

  • 关于 AEC-Q100 1 级/0 级/0 级扩展标准(符合 AEC-Q100 标准并采用汽车级流程制造),请参见 LM57-Q1 数据表
  • 可通过外部电阻在 −40°C 至 +150°C 温度范围内设置跳变温度,
    精度为 ±1.7°C 或 ±2.3°C
  • 电阻容差不会引入误差
  • 推挽和开漏开关输出
  • 宽工作温度范围:−50°C 至 150°C
  • 超线性模拟 VTEMP 温度传感器输出,−50°C 至 +150°C 温度范围内的精度为
    ±0.8°C 或 ±1.3°C
  • 具有短路保护的模拟和数字输出
  • 数字输出具有锁存功能
  • TRIP-TEST 引脚支持系统内测试
  • 低功耗特性最大程度减少自发热,使其低于 0.02°C

2 应用范围

  • 工厂自动化
  • 工业用
  • 汽车用
  • 井下设备
  • 航空电子设备
  • 电信基础设施

3 说明

LM57 器件是一款具有模拟温度传感器输出的精密双路输出温度开关,适用于宽温度范围的工业级应用。 跳变温度 (TTRIP) 可从 –40°C 至 150°C 温度范围内的 256 种可能值中进行选择。VTEMP 是 AB 类模拟电压输出,该电压输出与温度成正比,负温度系数 (NTC) 可编程。 两个外部 1% 电阻设置 TTRIP 和 VTEMP 斜率。 数字和模拟输出具有保护功能,并且可监视系统过热事件。

内置的热滞后功能 (THYST) 可防止数字输出发生振荡。 TOVER TOVER 数字输出将在芯片温度超过 TTRIP 时置为有效,在芯片温度低于 TTRIP 与 THYST 的差值时置为无效。

TOVER 为高电平有效,并且采用推挽结构。 TOVER 为低电平有效,并且采用开漏结构。 将 TOVER 与 TRIP-TEST 相连,可在输出发生跳变后将其锁存。 将 TRIP-TEST 强制为低电平可将输出清零。 将 TRIP-TEST 驱动为高电平会将数字输出置为有效。 处理器可检查 TOVER TOVER 的状态,从而确认它们是否已切换至激活状态。 这样一来,便可以在系统装配后现场验证比较器和输出电路的功能。 当 TRIP-TEST 为高电平时,VTEMP 引脚为跳变基准电压。 系统随后可使用该电压计算 LM57

器件信息 (1)(2)

器件型号 封装 封装尺寸(标称值)
LM57BISD WSON (8) 2.50mm × 2.50mm
LM57FPW TSSOP (8) 3.00mm × 6.40mm
  1. 要了解所有可用封装,请见数据表末尾的可订购产品附录。
  2. 关于器件比较,请参见Device Comparison Table

LM57 过热报警

LM57 30080576.gif

温度传递函数

LM57 C101_SNIS152.png