ZHCSN92I January   2020  – August 2026 ISO6720-Q1 , ISO6721-Q1 , ISO6721R-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 引脚配置和功能
  6. 5 规格
    1. 5.1  绝对最大额定值
    2. 5.2  ESD 等级
    3. 5.3  建议运行条件
    4. 5.4  热性能信息
    5. 5.5  功率等级
    6. 5.6  绝缘规格
    7. 5.7  安全相关认证
    8. 5.8  安全限值
    9. 5.9  电气特性 - 5V 电源
    10. 5.10 电源电流特性 - 5V 电源
    11. 5.11 电气特性 - 3.3V 电源
    12. 5.12 电源电流特性 - 3.3V 电源
    13. 5.13 电气特性 - 2.5V 电源 
    14. 5.14 电源电流特性 - 2.5V 电源
    15. 5.15 电气特征 - 1.8V 电源
    16. 5.16 电源电流特征 - 1.8V 电源
    17. 5.17 开关特性 - 5V 电源
    18. 5.18 开关特性 - 3.3V 电源
    19. 5.19 开关特性 - 2.5V 电源
    20. 5.20 开关特征 - 1.8V 电源
    21. 5.21 绝缘特性曲线
    22. 5.22 典型特性
  7. 6 参数测量信息
  8. 7 详细说明
    1. 7.1 概述
    2. 7.2 功能方框图
    3. 7.3 特性说明
      1. 7.3.1 电磁兼容性 (EMC) 注意事项
    4. 7.4 器件功能模式
      1. 7.4.1 器件 I/O 原理图
  9. 8 应用和实施
    1. 8.1 应用信息
    2. 8.2 典型应用
      1. 8.2.1 设计要求
      2. 8.2.2 详细设计过程
      3. 8.2.3 应用曲线
        1. 8.2.3.1 绝缘寿命
    3. 8.3 电源相关建议
    4. 8.4 布局
      1. 8.4.1 布局指南
        1. 8.4.1.1 PCB 材料
      2. 8.4.2 布局示例
  10. 9 器件和文档支持
    1. 9.1 器件支持
      1. 9.1.1 开发支持
    2. 9.2 文档支持
      1. 9.2.1 相关文档
    3. 9.3 接收文档更新通知
    4. 9.4 支持资源
    5. 9.5 商标
    6. 9.6 静电放电警告
    7. 9.7 术语表
  11. 10修订历史记录
  12. 11机械、封装和可订购信息
    1. 11.1 封装选项附录
    2. 11.2 卷带包装信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

8.2.3.1 绝缘寿命

绝缘寿命预测数据是使用业界通用的时间依赖性电介质击穿 (TDDB) 测试方法收集的。在该测试中，隔离栅两侧的所有引脚都连在一起，构成了一个双端子器件并在两侧之间施加高电压；对于 TDDB 测试设置，请参阅图 8-7。绝缘击穿数据是在开关频率为 60Hz 以及各种高电压条件下在整个温度范围内收集的。对于基础型绝缘，VDE 标准要求使用故障率小于 1000ppm 的 TDDB 预测线。对于增强型绝缘，VDE 标准要求使用故障率小于 1 ppm 的 TDDB 预测线。

尽管最短预期绝缘寿命为 20 年，但在规定的工作隔离电压下，VDE 基础型认证和增强型认证均要求工作电压具有额外 20% 的安全裕度。对于基础型认证，器件寿命要求 20% 的安全裕度，这意味着在工作电压高于规定值 20% 的情况下，要求的最短绝缘寿命为 24 年。对于增强型绝缘，器件寿命要求 50% 的安全裕度，这意味着在工作电压高于规定值 20% 的情况下，要求的最短绝缘寿命为 30 年

图 8-8 和 图 8-9 展示了隔离栅在完整寿命期间承受高压应力的固有能力。根据 TDDB 数据，绝缘固有能力为 、1060VRMS 且采用 8-DWV 封装时，以及 450VRMS 且采用 8D 封装时寿命长于 100 年。其他因素，比如封装尺寸、污染等级、材料组等，均可能会进一步限制元件的工作电压。

ISO6720-Q1 ISO6721-Q1 ISO6721R-Q1 绝缘寿命测量的测试设置图 8-7 绝缘寿命测量的测试设置
ISO6720-Q1 ISO6721-Q1 ISO6721R-Q1 8D 封装时绝缘寿命预测数据图 8-8 8D 封装时绝缘寿命预测数据
ISO6720-Q1 ISO6721-Q1 ISO6721R-Q1 8-DWV 封装时绝缘寿命预测数据图 8-9 8-DWV 封装时绝缘寿命预测数据