ZHCUAN7C December   2013  – November 2022 BQ40Z50 , BQ40Z50-R2

 

  1.   摘要
  2.   商标
  3. 1特性
    1. 1.1 套件内容
    2. 1.2 订购信息
    3. 1.3 文档
    4. 1.4 bq40z50 和 0bq296000 电路模块性能规格汇总
  4. 2bq40z50EVM 快速入门指南
    1. 2.1 设置并评估 EVM 时所需的项目
    2. 2.2 软件安装
    3. 2.3 EVM 连接
    4. 2.4 更新固件
  5. 3Battery Management Studio
    1. 3.1 寄存器屏幕
    2. 3.2 设置可编程 bq40z50 选项
    3. 3.3 校准屏幕
      1. 3.3.1 电压校准
      2. 3.3.2 温度校准
      3. 3.3.3 电流校准
    4. 3.4 化学成分屏幕
    5. 3.5 固件画面
      1. 3.5.1 对闪存编程
      2. 3.5.2 导出闪存内容
    6. 3.6 高级命令 SMB 画面
  6. 4bq40z50EVM 电路模块原理图
    1. 4.1 预充电
    2. 4.2 LED 控制
    3. 4.3 紧急关断
    4. 4.4 测试保险丝熔断电路
    5. 4.5 PTC 热敏电阻
  7. 5电路模块物理布局
    1. 5.1 电路板布局
    2. 5.2 原理图
  8. 6物料清单
  9. 7德州仪器 (TI) 相关文档
  10. 8修订历史记录

4.4 测试保险丝熔断电路

为防止保险丝熔断测试期间电路板功能受损，EVM 实际上未提供化学保险丝。如果发生保险丝熔断情况，FET Q5 会将 FUSE 测试点驱动为低电平。由于 FUSE 连接到开漏 FET，因此需要借助上拉电阻器来检查 FUSE 是否拉至低电平。由于 FUSEPIN 测试点连接到 Q5 的栅极，因此可通过监测 FUSEPIN 来进行测试，无需添加上拉电阻器。bq40z50 数据表中显示了应用板上的保险丝位置。化学保险丝也可焊接到 EVM 上以进行系统内测试。PCB 上包含一个铜桥来绕过化学保险丝，因此必须切断该电桥以使保险丝断开电源路径。图 4-1 上的切断位置以黄色显示，且箭头指向该位置。

GUID-2AB19CBC-68DE-4CBB-9748-3C7FF4C587B2-low.gif图 4-1 保险丝布线修改