ZHCSDR6 May 2015 TLV713P-Q1
PRODUCTION DATA.
有三个评估模块 (EVM) 可与 TLV713P-Q1 配套使用,帮助评估初始电路性能:
这些 EVM 预装有采用 DQN 封装的商业版器件,不过可以用于参数评估。 这些 EVM 可从德州仪器 (TI) 网站上的器件产品文件夹获取,也可直接从 TI 网上商店购买。
分析模拟电路和系统的性能时,使用 SPICE 模型对电路性能进行计算机仿真非常有用。 您可以从产品文件夹中的工具和软件下获取 TLV713P-Q1 的 SPICE 模型。
产品 | VOUT |
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TLV713PxxPQyyyzQ1 | xx 为标称输出电压。 对于分辨率为 100mV 的输出电压,订货编号中使用两位数字(例如,28 = 2.8V)。 P 为可选项;P 表示器件具有一个带有源输出放电功能的 LDO 稳压器。 yyy 为封装标识符。 z 为封装数量。 R 表示卷(3000 片),T 表示带(250 片)。 |
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ESD 可能会损坏该集成电路。德州仪器 (TI) 建议通过适当的预防措施处理所有集成电路。如果不遵守正确的处理措施和安装程序 , 可能会损坏集成电路。
ESD 的损坏小至导致微小的性能降级 , 大至整个器件故障。 精密的集成电路可能更容易受到损坏 , 这是因为非常细微的参数更改都可能会导致器件与其发布的规格不相符。