ZHCSGW6B October   2017  – October 2021 CSD25501F3

PRODUCTION DATA  

  1. 1特性
  2. 2应用
  3. 3说明
  4. 4Revision History
  5. 5Specifications
    1. 5.1 Electrical Characteristics
    2. 5.2 Thermal Information
    3. 5.3 Typical MOSFET Characteristics
  6. 6Device and Documentation Support
    1. 6.1 接收文档更新通知
    2. 6.2 支持资源
    3. 6.3 Trademarks
    4. 6.4 Electrostatic Discharge Caution
    5. 6.5 术语表
  7. 7Mechanical, Packaging, and Orderable Information
    1. 7.1 Mechanical Dimensions
    2. 7.2 Recommended Minimum PCB Layout
    3. 7.3 Recommended Stencil Pattern

封装选项

请参考 PDF 数据表获取器件具体的封装图。

机械数据 (封装 | 引脚)
  • YJN|3
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

说明

此 –20V、64mΩ、P 沟道 FemtoFET™ MOSFET 经过设计和优化,能够尽可能减小许多手持式和移动应用中的空间占用。这项技术能够在替代标准小信号 MOSFET 的同时大幅减小封装尺寸。集成的 10kΩ 钳位电阻器 (RC) 可根据占空比让栅极电压 (VGS) 高于最大内部栅极氧化值 –6V。通过二极管的栅极泄漏 (IGSS) 随着 VGS 增加到高于 –6V 而增加。

产品概要
TA = 25°C 典型值 单位
VDS 漏源电压 -20 V
Qg 总栅极电荷 (–4.5V) 1.02 nC
Qgd 栅极电荷(栅极到漏极) 0.09 nC
RDS(on) 漏源
导通电阻
VGS = –1.8V 120
VGS = -2.5V 86
VGS = –4.5V 64
VGS(th) 阈值电压 -0.75 V
器件信息
器件(1) 数量 包装介质 封装 配送
CSD25501F3 3000 7 英寸卷带 Femto
0.73mm × 0.64mm
基板栅格阵列 (LGA)
卷带

包装
CSD25501F3T 250
如需了解所有可用封装,请参阅数据表末尾的可订购产品附录。
绝对最大额定值
TA = 25°C(除非另外注明) 单位
VDS 漏源电压 -20 V
VGS 栅源电压 -20 V
ID 持续漏极电流(1) –3.6 A
IDM 脉冲漏极电流(1)(2) –13.6 A
PD 功率耗散(1) 500 mW
V(ESD) 人体放电模式 (HBM) 4000 V
组件充电模式 (CDM) 2000
TJ
Tstg
运行结温、
贮存温度
–55 至 150 °C
安装在覆铜区域极小的 FR4 材料上时的典型 RθJA = 255°C/W。
脉冲持续时间 ≤ 100μs,占空比 ≤ 1%。

GUID-36DF0AA5-AF24-4770-A78D-0EF8C45CE195-low.png典型部件尺寸
GUID-B3A7A89B-FD36-43BB-9B56-A9EBCFF90083-low.gif顶视图