ZHCST35D March   2023  – December 2023 CC3300 , CC3301

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特性
  3. 应用
  4. 说明
  5. 系统图
  6. Terminal Configuration and Functions
    1. 5.1 Pin Diagram
    2. 5.2 Pin Attributes
  7. Specifications
    1. 6.1  Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2  ESD Ratings
    3. 6.3  Recommended Operating Conditions
    4. 6.4  Electrical Characteristics
    5. 6.5  Thermal Resistance Characteristics
    6. 6.6  WLAN Performance: 2.4-GHz Receiver Characteristics
    7. 6.7  WLAN Performance: 2.4-GHz Transmitter Power
    8. 6.8  BLE Performance: Receiver Characteristics
    9. 6.9  BLE Performance - Transmitter Characteristics
    10. 6.10 Current Consumption - WLAN Static Modes
    11. 6.11 Current Consumption - WLAN Use Cases
    12. 6.12 Current Consumption - BLE Static Modes
    13. 6.13 Current Consumption - Device States
    14. 6.14 Timing and Switching Characteristics
      1. 6.14.1 Power Supply Sequencing
      2. 6.14.2 Clocking Specifications
        1. 6.14.2.1 Slow Clock Generated Internally
        2. 6.14.2.2 Slow Clock Using an External Oscillator
          1. 6.14.2.2.1 External Slow Clock Requirements
        3. 6.14.2.3 Fast Clock Using an External Crystal (XTAL)
          1. 6.14.2.3.1 External Fast Clock XTAL Specifications
    15. 6.15 Interface Timing Characteristics
      1. 6.15.1 SDIO Timing Specifications
        1. 6.15.1.1 SDIO Timing Diagram - Default Speed
        2. 6.15.1.2 SDIO Timing Parameters - Default Speed
        3. 6.15.1.3 SDIO Timing Diagram - High Speed
        4. 6.15.1.4 SDIO Timing Parameters - High Speed
      2. 6.15.2 SPI Timing Specifications
        1. 6.15.2.1 SPI Timing Diagram
        2. 6.15.2.2 SPI Timing Parameters
      3. 6.15.3 UART 4-Wire Interface
        1. 6.15.3.1 UART Timing Parameters
  8. Applications, Implementation, and Layout
  9. Device and Documentation Support
    1. 8.1 第三方产品免责声明
    2. 8.2 器件命名规则样板文件
    3. 8.3 Tools and Software
    4. 8.4 Documentation Support
    5. 8.5 支持资源
    6. 8.6 Trademarks
    7. 8.7 静电放电警告
    8. 8.8 术语表
  10. Revision History
  11. 10Mechanical, Packaging, and Orderable Information

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

器件命名规则样板文件

器件开发演变流程:

    X 试验器件不一定代表最终器件的电气规范标准,并且可能不使用生产组装流程。
    P 原型器件不一定是最终器件模型,并且不一定符合最终电气标准规范。
    完全合格的芯片模型的生产版本。

支持工具开发演变流程:

    TMDX 还未经德州仪器 (TI) 完整内部质量测试的开发支持产品。
    TMDS 完全合格的开发支持产品。

X 和 P 器件和 TMDX 开发支持工具在供货时附带如下免责条款:

器件开发演变流程:

    TMX 试验器件不一定代表最终器件的电气规范标准,并且可能不使用生产组装流程。
    TMP 原型器件不一定是最终器件模型,并且不一定符合最终电气标准规范。
    TMS 完全合格的芯片模型的生产版本。

支持工具开发演变流程:

    TMDX 还未经德州仪器 (TI) 完整内部质量测试的开发支持产品。
    TMDS 完全合格的开发支持产品。

TMX 和 TMP 器件和 TMDX 开发支持工具供货时附带如下免责条款:

“开发的产品用于内部评估用途。”

生产器件和 TMDS 开发支持工具已进行完全特性描述,并且器件的质量和可靠性已经完全论证。TI 的标准保修证书适用。

预测显示原型器件(X 或者 P)的故障率大于标准生产器件。由于这些器件的预期最终使用故障率仍未确定,故德州仪器 (TI) 建议请勿将这些器件用于任何生产系统。请仅使用合格的生产器件。