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质量、可靠性和封装数据下载

TLE2022AMDR 正在供货

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Rating

Automotive
RoHS Yes
RoHS Yes
REACH Yes
REACH Yes
器件标识 2022AM
铅涂层/焊球材料 NiPdAu
铅涂层/焊球材料 NiPdAu
MSL 等级/回流焊峰 Level-1-260C-UNLIM
MSL 等级/回流焊峰 Level-1-260C-UNLIM

MTBF/FIT 估算

MTBF/FIT MTBF/FIT 支持数据
MTBF FIT 使用温度 (°C) 置信度 (%) 激活能量 (eV) 测试温度 (°C) 测试持续时间(小时) 样本大小 故障次数 更多建议
1.25x108 8.0 55 60 0.7 125 1000 1463 0

材料成分

成分含量 均质物质含量
均质物质 成分 CAS 编号 质量 (mg) 百分比 % ppm 百分比 % ppm
Bond Wire
Copper and Its Alloys
Copper
7440-50-8
0.025675
97.530864
975309
0.027891
279
Not Categorized
Proprietary Materials
0.000003
0.011396
114
0.000003
0
Precious Metals
Gold
7440-57-5
0.000014
0.053181
532
0.000015
0
Precious Metals
Palladium
7440-05-3
0.000632
2.400760
24008
0.000687
7
Precious Metals
Silver
7440-22-4
0.000001
0.003799
38
0.000001
0
Sub-total
0.026325
100
1000000
0.028597
286
Die Attach Adhesive
Precious Metals
Silver
7440-22-4
0.235365
80.000068
800001
0.255682
2557
Thermoplastics
Epoxy
85954-11-6
0.058841
19.999932
199999
0.063920
639
Sub-total
0.294206
100
1000000
0.319603
3196
Lead Frame
Copper and Its Alloys
Copper
7440-50-8
28.67088
97.520000
975200
31.145818
311458
Copper and Its Alloys
Iron
7439-89-6
0.6762
2.300000
23000
0.734571
7346
Copper and Its Alloys
Phosphorus
7723-14-0
0.00882
0.030000
300
0.009581
96
Zinc and Its Alloys
Zinc
7440-66-6
0.0441
0.150000
1500
0.047907
479
Sub-total
29.40000
100
1000000
31.937877
319379
Lead Frame Plating
Nickel and Its Alloys
Nickel
7440-02-0
1.14144
95.120000
951200
1.239972
12400
Precious Metals
Gold
7440-57-5
0.00936
0.780000
7800
0.010168
102
Precious Metals
Palladium
7440-05-3
0.0492
4.100000
41000
0.053447
534
Sub-total
1.20000
100
1000000
1.303587
13036
Mold Compound
Not Categorized
Phenolic Resin
9003-35-4
2.527152
4.200000
42000
2.745302
27453
Other Inorganic Materials
Fused Silica
60676-86-0
52.348143
87.000000
870000
56.866958
568670
Other Organic Materials
Carbon Black
1333-86-4
0.300851
0.499999
5000
0.326821
3268
Other Organic Materials
Organic Phosphorus
1330-78-5
0.180511
0.300000
3000
0.196093
1961
Other Organic Materials
Proprietary Non Halide Flame Retardant
Trade Secret
0.300851
0.499999
5000
0.326821
3268
Other Plastics and Rubber
Silicone
218163-11-2
0.120341
0.200001
2000
0.130729
1307
Thermoplastics
Epoxy
85954-11-6
4.39243
7.299999
73000
4.771595
47716
Sub-total
60.170279
100
1000000
65.364319
653643
Semiconductor Device
Ceramics / Glass
Doped Silicon
7440-21-3
0.962897
100.000000
1000000
1.046017
10460
Sub-total
0.962897
100
1000000
1.046017
10460
Total
92.053707
100
1000000
成分含量 均质物质含量
均质物质 成分 CAS 编号 质量 (mg) 百分比 % ppm 百分比 % ppm
Bond Wire
Precious Metals
Gold
7440-57-5
0.064031
99.998438
999984
0.065940
659
Precious Metals
Silver
7440-22-4
0.000001
0.001562
16
0.000001
0
Sub-total
0.064032
100
1000000
0.065941
659
Die Attach Adhesive
Precious Metals
Silver
7440-22-4
0.674683
79.999976
800000
0.694797
6948
Thermoplastics
Epoxy
85954-11-6
0.168671
20.000024
200000
0.173700
1737
Sub-total
0.843354
100
1000000
0.868497
8685
Lead Frame
Copper and Its Alloys
Copper
7440-50-8
33.9675
97.050000
970500
34.980181
349802
Copper and Its Alloys
Iron
7439-89-6
0.91
2.600000
26000
0.937130
9371
Copper and Its Alloys
Phosphorus
7723-14-0
0.0525
0.150000
1500
0.054065
541
Zinc and Its Alloys
Zinc
7440-66-6
0.07
0.200000
2000
0.072087
721
Sub-total
35.0000
100
1000000
36.043463
360435
Lead Frame Plating
Nickel and Its Alloys
Nickel
7440-02-0
0.09512
95.120000
951200
0.097956
980
Precious Metals
Gold
7440-57-5
0.00078
0.780000
7800
0.000803
8
Precious Metals
Palladium
7440-05-3
0.0041
4.100000
41000
0.004222
42
Sub-total
0.10000
100
1000000
0.102981
1030
Mold Compound
Not Categorized
Phenolic Resin
9003-35-4
2.041918
3.499999
35000
2.102794
21028
Other Inorganic Materials
Fused Silica
60676-86-0
49.881151
85.500001
855000
51.368269
513683
Other Organic Materials
Carbon Black
1333-86-4
0.291703
0.500001
5000
0.300400
3004
Thermoplastics
Epoxy
85954-11-6
6.125755
10.499999
105000
6.308384
63084
Sub-total
58.340527
100
1000000
60.079846
600798
Semiconductor Device
Ceramics / Glass
Doped Silicon
7440-21-3
2.757074
100.000000
1000000
2.839271
28393
Sub-total
2.757074
100
1000000
2.839271
28393
Total
97.104987
100
1000000

认证摘要

类型 AEC-Q100 测试编号 测试规格 最低批次数量 SS/批次 测试名称 条件 结果 笔记
Test group A - accelerated environment stress test
THB/HAST A2 JESD22-A101/JESD22-A110 3 77 Biased HAST 130C/85%RH 96 hours Pass Or equivalent Q100 condition
AC/UHAST A3 JESD22-A102/JESD22-A118 3 77 Unbiased HAST 130C/85%RH for 96 hours Pass Or equivalent Q100 condition
TC A4 JESD22-A104 3 77 Temperature cycle Per grade requirements. See data sheet. Pass
TC-WBP A4 MIL-STD883 method 2011 1 30 Post temp cycle bond pull Per requirements Pass As applicable per die configuration
HTSL A6 JESD22-A103 1 45 High temp storage bake Per grade requirements. See data sheet. Pass
Test group B - accelerated lifetime simulation test
HTOL B1 JESD22-A108 3 77 High temperature operating life Per grade requirements. See data sheet. Pass
ELFR B2 AEC Q100-008 3 800 Early life failure rate Per grade requirements. See data sheet. Pass
Test group C - package assembly integrity tests
WBS C1 AEC Q100-001 1 30 Wire bond shear Cpk > 1.67 Pass As applicable per die configuration
WBP C2 MIL-STD883 method 2011 1 30 Wire bond pull Cpk > 1.67 Pass As applicable per die configuration
SD C3 JEDEC J-STD-002 1 15 Solderability >95% lead coverage Pass
PD C4 JESD22-B100 and B108 3 10 Physical dimensions Cpk > 1.67 Pass
SBS C5 AEC Q100-010 3 5 balls from 10 devices Solder Ball Shear Cpk > 1.67 Pass As applicable per die configuration
Test group D - die fabrication reliability tests
EM D1 Electromigration Per technology requirements Pass
TDDB D2 Time dependent dielectric breakdown Per technology requirements Pass
HCI D3 Hot carrier injection Per technology requirements Pass
BTI D4 Bias temperature instability Per technology requirements Pass
SM D5 Stress Migration Per technology requirements Pass
Test group E - electrical verification
HBM E2 AEC Q100-002 1 3 Electrostatic discharge - human body model Per AEC Q100-002 See data sheet
CDM E3 AEC Q100-011 1 3 Electrostatic discharge - charged device model Per AEC Q100-011 See data sheet
LU E4 AEC Q100-004 1 3 Latch-up Per AEC Q100-004 Pass As applicable per Q100-004
ED E5 AEC Q100-009 3 30 Electrical distributions Per AEC Q100-009 Pass

持续可靠性监测

芯片制造工艺流程可靠性数据。
制造工艺 可靠性测试 滚动式的年度(2025 年第 2 季度 - 2026 年第 1 季度)样本大小 累计样本大小 结论
BIPOLAR Life test 125C, 1000 Hours or Equivalent JEDEC Condition 1540 24692 Pass
装配工艺可靠性数据。
封装系列 可靠性测试 滚动式的年度(2025 年第 2 季度 - 2026 年第 1 季度)样本大小 累计样本大小 结论
SOIC Biased HAST 130C/85%RH, 96 Hours or Equivalent JEDEC Condition 4522 83554 Pass
SOIC High temp storage bake 150C, 1000 Hours or Equivalent JEDEC Condition 3530 71098 Pass
SOIC Temperature cycle -65/150C, 500 Hours or Equivalent JEDEC Condition 12607 185255 Pass
SOIC Unbiased HAST 130C/85% RH, 96 Hours or Equivalent JEDEC Condition 8855 136603 Pass

其他资源

通用质量指南

认证

冲突矿产专用披露报告

如需更多相关信息,请联系 TI 客户支持中心.

关闭

数据类型定义

RoHS

根据欧盟限制使用有害物质 (RoHS) 指令 2011/65/EU(2011 年 7 月 21 日订立)和修订指令 (EU) 2015/863(2019 年 7 月 22 日生效),当指明“RoHS = 是”或“RoHS = 豁免”时,TI 产品是符合 RoHS 标准的。

据 TI 所知,TI 已声明其产品“符合 RoHS 标准”。

所含禁用物质不超过 RoHS 规定的最大允许阈值,

 或者

在适当的情况下,可能符合 RoHS 附件 III 中铅 (Pb) 的豁免范围,如 "TI RoHS 声明" 所述。

REACH

是: 完全符合欧盟 (EU) RoHS,无需豁免。

受影响: 当含量超过阈值时,仅用于化学品注册、评估、授权和限制 (REACH) 法规中的高度关注物质 (SVHC)。REACH SVHC 不限制使用,但如果含量超出阈值,则必须提供更多信息。

否: 不符合 EU RoHS。

请参阅 TI REACH 声明 ,了解更多详细信息。

器件标识

封装顶部标记。

引脚镀层/焊球材料֙

引脚镀层和焊球成分。

MSL 等级/回流焊峰值温度

潮湿敏感度等级 (MSL) 是美国电子器件工程联合委员会 (JEDEC) 的一项行业标准分类,定义了在进行高温回流焊前产品可安全地暴露于周围环境的时间。

MTBF/FIT 估算

这个合格性测试的目的是确定产品的生命周期,并显示得出这些比率的条件。

材料成分

TI 的材料成分信息基于第三方供应商提供的信息。TI 通过合理努力来提供任何所需或可用的信息。TI 可能尚未对引入的材料和化学品进行破坏性测试或化学分析。TI 及其供应商可能会将特定信息视为专有信息,因此 TI 可能不会发布这些特定信息。材料成分信息由 TI“按原样”提供。

认证摘要

秉承为客户提供高质量产品的宗旨,我们对卓越质量与高可靠性的追求已根植在 TI 文化之中。TI 在开发其半导体技术时的最低目标是,在 105°C 结温下、100,000 小时通电时间内的时基故障 (FIT) 低于 50。TI 的产品开发过程涵盖仿真、加速测试和耐用性评估等过程。在产品开发过程中,TI 会对器件工艺可靠性、封装可靠性和器件/封装间的相互作用进行细致评估。

持续可靠性监测

ORM 计划开展过程中,我们会收集一系列有代表性器件、工艺和封装的环境可靠性压力测试数据。该报告中的 ORM 计划结果数据每个季度都会更新。