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质量、可靠性和封装数据下载

TLC252CPWR 正在供货

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Rating

Catalog
RoHS Yes
REACH Yes
器件标识 P252
铅涂层/焊球材料 NiPdAu
MSL 等级/回流焊峰 Level-1-260C-UNLIM

MTBF/FIT 估算

MTBF/FIT MTBF/FIT 支持数据
MTBF FIT 使用温度 (°C) 置信度 (%) 激活能量 (eV) 测试温度 (°C) 测试持续时间(小时) 样本大小 故障次数 更多建议
2.46x108 4.1 55 60 0.7 125 1000 2868 0

材料成分

成分含量 均质物质含量
均质物质 成分 CAS 编号 质量 (mg) 百分比 % ppm 百分比 % ppm
Bond Wire
Copper and Its Alloys
Copper
7440-50-8
0.035735
99.997202
999972
0.089945
899
Precious Metals
Silver
7440-22-4
0.000001
0.002798
28
0.000003
0
Sub-total
0.035736
100
1000000
0.089948
899
Die Attach Adhesive
Precious Metals
Silver
7440-22-4
0.416577
80.000038
800000
1.048528
10485
Thermoplastics
Epoxy
85954-11-6
0.104144
19.999962
200000
0.262131
2621
Sub-total
0.520721
100
1000000
1.310659
13107
Lead Frame
Copper and Its Alloys
Copper
7440-50-8
12.6633
97.410000
974100
31.873640
318736
Copper and Its Alloys
Iron
7439-89-6
0.312
2.400000
24000
0.785307
7853
Copper and Its Alloys
Phosphorus
7723-14-0
0.0039
0.030000
300
0.009816
98
Other Nonferrous Metals and Alloys
Lead
7439-92-1
0.0039
0.030000
300
0.009816
98
Other Nonferrous Metals and Alloys
Tin
7440-31-5
0.0039
0.030000
300
0.009816
98
Zinc and Its Alloys
Zinc
7440-66-6
0.013
0.100000
1000
0.032721
327
Sub-total
13.0000
100
1000000
32.721117
327211
Lead Frame Plating
Nickel and Its Alloys
Nickel
7440-02-0
0.247312
95.120000
951200
0.622487
6225
Precious Metals
Gold
7440-57-5
0.002028
0.780000
7800
0.005104
51
Precious Metals
Palladium
7440-05-3
0.01066
4.100000
41000
0.026831
268
Sub-total
0.260000
100
1000000
0.654422
6544
Mold Compound
Other Inorganic Materials
Fused Silica
60676-86-0
20.821378
85.999999
860000
52.407596
524076
Other Organic Materials
Carbon Black
1333-86-4
0.072633
0.300001
3000
0.182818
1828
Thermoplastics
Epoxy
85954-11-6
3.316894
13.700000
137000
8.348652
83487
Sub-total
24.210905
100
1000000
60.939066
609391
Semiconductor Device
Ceramics / Glass
Doped Silicon
7440-21-3
1.702333
100.000000
1000000
4.284787
42848
Sub-total
1.702333
100
1000000
4.284787
42848
Total
39.729695
100
1000000

认证摘要

应力 基准 最小批量 SS/批次 测试名称/条件 有效期 结果 笔记
HTOL JESD22-A108 3 77 Life test, 125C 1000 hours Pass Or equivalent JEDEC condition
HTSL JESD22-A103 3 25 High temp storage bake, 150C 1000 hours Pass Or equivalent JEDEC condition
AC/UHAST JESD22-A102/JESD22-A118 3 25 Unbiased HAST 130C / 85% RH 96 hours Pass Or equivalent JEDEC condition
THB/HAST JESD22-A101/JESD22-A110 3 25 HAST 130C/85%RH 96 hours Pass Or equivalent JEDEC condition
TC JESD22-A104 3 25 Temperature cycle -65/150C 500 cycles Pass Or equivalent JEDEC condition
SD J-STD-002 3 22 Per specification >95% lead coverage Pass
HBM JS-001 1 3 ESD - HBM Classification See data sheet
CDM JS-002 1 3 ESD - CDM Classification See data sheet
LU JESD78 1 3 Latch-up Per JESD78 Pass As applicable per JESD78
MSL J-STD-020 Per J-STD-020 Classification See data sheet

持续可靠性监测

芯片制造工艺流程可靠性数据。
制造工艺 可靠性测试 滚动式的年度(2025 年第 2 季度 - 2026 年第 1 季度)样本大小 累计样本大小 结论
CMOS Life test 125C, 1000 Hours or Equivalent JEDEC Condition 77 54537 Pass
装配工艺可靠性数据。
封装系列 可靠性测试 滚动式的年度(2025 年第 2 季度 - 2026 年第 1 季度)样本大小 累计样本大小 结论
TSSOP Biased HAST 130C/85%RH, 96 Hours or Equivalent JEDEC Condition 2156 47955 Pass
TSSOP High temp storage bake 150C, 1000 Hours or Equivalent JEDEC Condition 2486 37439 Pass
TSSOP Temperature cycle -65/150C, 500 Hours or Equivalent JEDEC Condition 7084 103382 Pass
TSSOP Unbiased HAST 130C/85% RH, 96 Hours or Equivalent JEDEC Condition 5082 83337 Pass

其他资源

通用质量指南

认证

冲突矿产专用披露报告

如需更多相关信息,请联系 TI 客户支持中心.

关闭

数据类型定义

RoHS

根据欧盟限制使用有害物质 (RoHS) 指令 2011/65/EU(2011 年 7 月 21 日订立)和修订指令 (EU) 2015/863(2019 年 7 月 22 日生效),当指明“RoHS = 是”或“RoHS = 豁免”时,TI 产品是符合 RoHS 标准的。

据 TI 所知,TI 已声明其产品“符合 RoHS 标准”。

所含禁用物质不超过 RoHS 规定的最大允许阈值,

 或者

在适当的情况下,可能符合 RoHS 附件 III 中铅 (Pb) 的豁免范围,如 "TI RoHS 声明" 所述。

REACH

是: 完全符合欧盟 (EU) RoHS,无需豁免。

受影响: 当含量超过阈值时,仅用于化学品注册、评估、授权和限制 (REACH) 法规中的高度关注物质 (SVHC)。REACH SVHC 不限制使用,但如果含量超出阈值,则必须提供更多信息。

否: 不符合 EU RoHS。

请参阅 TI REACH 声明 ,了解更多详细信息。

器件标识

封装顶部标记。

引脚镀层/焊球材料֙

引脚镀层和焊球成分。

MSL 等级/回流焊峰值温度

潮湿敏感度等级 (MSL) 是美国电子器件工程联合委员会 (JEDEC) 的一项行业标准分类,定义了在进行高温回流焊前产品可安全地暴露于周围环境的时间。

MTBF/FIT 估算

这个合格性测试的目的是确定产品的生命周期,并显示得出这些比率的条件。

材料成分

TI 的材料成分信息基于第三方供应商提供的信息。TI 通过合理努力来提供任何所需或可用的信息。TI 可能尚未对引入的材料和化学品进行破坏性测试或化学分析。TI 及其供应商可能会将特定信息视为专有信息,因此 TI 可能不会发布这些特定信息。材料成分信息由 TI“按原样”提供。

认证摘要

秉承为客户提供高质量产品的宗旨,我们对卓越质量与高可靠性的追求已根植在 TI 文化之中。TI 在开发其半导体技术时的最低目标是,在 105°C 结温下、100,000 小时通电时间内的时基故障 (FIT) 低于 50。TI 的产品开发过程涵盖仿真、加速测试和耐用性评估等过程。在产品开发过程中,TI 会对器件工艺可靠性、封装可靠性和器件/封装间的相互作用进行细致评估。

持续可靠性监测

ORM 计划开展过程中,我们会收集一系列有代表性器件、工艺和封装的环境可靠性压力测试数据。该报告中的 ORM 计划结果数据每个季度都会更新。