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质量、可靠性和封装数据下载

TLC2274AMDREP 正在供货

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Rating

HiRel Enhanced Product
RoHS Yes
REACH Yes
器件标识 2274AME
铅涂层/焊球材料 NiPdAu
MSL 等级/回流焊峰 Level-1-260C-UNLIM

MTBF/FIT 估算

MTBF/FIT MTBF/FIT 支持数据
MTBF FIT 使用温度 (°C) 置信度 (%) 激活能量 (eV) 测试温度 (°C) 测试持续时间（小时） 样本大小 故障次数 更多建议
2.86x109 0.4 55 60 0.7 125 1000 33342 0 —

材料成分

成分含量 均质物质含量
均质物质 成分 CAS 编号 质量 (mg) 百分比 % ppm 百分比 % ppm
Bond Wire
Precious Metals
Gold
7440-57-5
0.198398
99.999496
999995
0.148931
1489
Precious Metals
Silver
7440-22-4
0.000001
0.000504
5
0.000001
0
Sub-total
— —
0.198399
100
1000000
0.148931
1489
Die Attach Adhesive
Precious Metals
Silver
7440-22-4
0.501746
80.000064
800001
0.376644
3766
Thermoplastics
Epoxy
85954-11-6
0.125436
19.999936
199999
0.094161
942
Sub-total
— —
0.627182
100
1000000
0.470805
4708
Lead Frame
Copper and Its Alloys
Copper
7440-50-8
34.5498
97.050000
970500
25.935379
259354
Copper and Its Alloys
Iron
7439-89-6
0.9256
2.600000
26000
0.694817
6948
Copper and Its Alloys
Phosphorus
7723-14-0
0.0534
0.150000
1500
0.040086
401
Zinc and Its Alloys
Zinc
7440-66-6
0.0712
0.200000
2000
0.053447
534
Sub-total
— —
35.6000
100
1000000
26.723729
267237
Lead Frame Plating
Nickel and Its Alloys
Nickel
7440-02-0
0.09512
95.120000
951200
0.071403
714
Precious Metals
Gold
7440-57-5
0.00078
0.780000
7800
0.000586
6
Precious Metals
Palladium
7440-05-3
0.0041
4.100000
41000
0.003078
31
Sub-total
— —
0.10000
100
1000000
0.075067
751
Mold Compound
Not Categorized
Phenolic Resin
9003-35-4
3.312284
3.500000
35000
2.486421
24864
Other Inorganic Materials
Fused Silica
60676-86-0
80.914363
85.500000
855000
60.739705
607397
Other Organic Materials
Carbon Black
1333-86-4
0.473183
0.500000
5000
0.355203
3552
Thermoplastics
Epoxy
85954-11-6
9.936852
10.500000
105000
7.459262
74593
Sub-total
— —
94.636682
100
1000000
71.040591
710406
Semiconductor Device
Ceramics / Glass
Doped Silicon
7440-21-3
2.052679
100.000000
1000000
1.540877
15409
Sub-total
— —
2.052679
100
1000000
1.540877
15409
Total
— —
133.214942
— —
100
1000000

认证摘要

应力 基准 最小批量 SS/批次 测试名称/条件 有效期 结果
HTOL JESD22-A108 3 77 Life test, 125C 1000 hours Pass
HTSL JESD22-A103 3 25 High temp storage bake 150C 1000 hours Pass
AC/UHAST JESD22-A102/JESD22-A118 3 25 Autoclave 121C or unbiased HAST 130C / 85% RH 96 hours Pass
THB/HAST JESD22-A101/JESD22-A110 3 25 THB 85C/85%RH or HAST 130C/110C/85%RH 1000 hours or 96 hours Pass
TC JESD22-A104 3 25 Temperature cycle -65/150C 500 cycles Pass
SD J-STD-002 3 22 Per specification >95% lead coverage Pass
HBM JS-001 1 3 ESD - HBM Classification See data sheet
CDM JESD22-C101 1 3 ESD - CDM Classification See data sheet
LU JESD78 1 3 Latch-up Per JESD78 Pass
MSL J-STD-020 — — Per J-STD-020 Classification See data sheet

持续可靠性监测

芯片制造工艺流程可靠性数据。
制造工艺 可靠性测试 滚动式的年度（2025 年第 4 季度 - 2026 年第 3 季度）样本大小 累计样本大小 结论
Power BICMOS High temperature gate bias 150C, 1000 Hours or Equivalent JEDEC Condition 924 924 Pass
Power BICMOS High temperature reverse bias 125C, 1000 Hours or Equivalent JEDEC Condition 1386 1386 Pass
Power BICMOS Life test 125C, 1000 Hours or Equivalent JEDEC Condition 28135 458152 Pass
装配工艺可靠性数据。
封装系列 可靠性测试 滚动式的年度（2025 年第 4 季度 - 2026 年第 3 季度）样本大小 累计样本大小 结论
SOIC Biased HAST 130C/85%RH, 96 Hours or Equivalent JEDEC Condition 5061 85659 Pass
SOIC High temp storage bake 150C, 1000 Hours or Equivalent JEDEC Condition 5627 75195 Pass
SOIC Temperature cycle -65/150C, 500 Hours or Equivalent JEDEC Condition 13223 189952 Pass
SOIC Unbiased HAST 130C/85% RH, 96 Hours or Equivalent JEDEC Condition 7777 139298 Pass

其他资源

通用质量指南

认证

冲突矿产专用披露报告

如需更多相关信息，请联系 TI 客户支持中心.

关闭

数据类型定义

RoHS

根据欧盟限制使用有害物质 (RoHS) 指令 2011/65/EU（2011 年 7 月 21 日订立）和修订指令 (EU) 2015/863（2019 年 7 月 22 日生效），当指明“RoHS = 是”或“RoHS = 豁免”时，TI 产品是符合 RoHS 标准的。

据 TI 所知，TI 已声明其产品“符合 RoHS 标准”。

• 所含禁用物质不超过 RoHS 规定的最大允许阈值，

 或者

• 在适当的情况下，可能符合 RoHS 附件 III 中铅 (Pb) 的豁免范围，如 "TI RoHS 声明" 所述。

REACH

是: 完全符合欧盟 (EU) RoHS，无需豁免。

受影响: 当含量超过阈值时，仅用于化学品注册、评估、授权和限制 (REACH) 法规中的高度关注物质 (SVHC)。REACH SVHC 不限制使用，但如果含量超出阈值，则必须提供更多信息。

否: 不符合 EU RoHS。

请参阅 TI REACH 声明 ，了解更多详细信息。

器件标识

封装顶部标记。

引脚镀层/焊球材料֙

引脚镀层和焊球成分。

MSL 等级/回流焊峰值温度

潮湿敏感度等级 (MSL) 是美国电子器件工程联合委员会 (JEDEC) 的一项行业标准分类，定义了在进行高温回流焊前产品可安全地暴露于周围环境的时间。

MTBF/FIT 估算

这个合格性测试的目的是确定产品的生命周期，并显示得出这些比率的条件。

材料成分

TI 的材料成分信息基于第三方供应商提供的信息。TI 通过合理努力来提供任何所需或可用的信息。TI 可能尚未对引入的材料和化学品进行破坏性测试或化学分析。TI 及其供应商可能会将特定信息视为专有信息，因此 TI 可能不会发布这些特定信息。材料成分信息由 TI“按原样”提供。

认证摘要

秉承为客户提供高质量产品的宗旨，我们对卓越质量与高可靠性的追求已根植在 TI 文化之中。TI 在开发其半导体技术时的最低目标是，在 105°C 结温下、100,000 小时通电时间内的时基故障 (FIT) 低于 50。TI 的产品开发过程涵盖仿真、加速测试和耐用性评估等过程。在产品开发过程中，TI 会对器件工艺可靠性、封装可靠性和器件/封装间的相互作用进行细致评估。

持续可靠性监测

ORM 计划开展过程中，我们会收集一系列有代表性器件、工艺和封装的环境可靠性压力测试数据。该报告中的 ORM 计划结果数据每个季度都会更新。