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质量、可靠性和封装数据下载

SN74LVC2G17MDCKREP 正在供货

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Rating

HiRel Enhanced Product
RoHS Yes
REACH Yes
器件标识 BZV
铅涂层/焊球材料 NiPdAu
MSL 等级/回流焊峰 Level-1-260C-UNLIM

MTBF/FIT 估算

MTBF/FIT MTBF/FIT 支持数据
MTBF FIT 使用温度 (°C) 置信度 (%) 激活能量 (eV) 测试温度 (°C) 测试持续时间（小时） 样本大小 故障次数 更多建议
2.21x109 0.5 55 60 0.7 125 1000 25789 0 —

材料成分

成分含量 均质物质含量
均质物质 成分 CAS 编号 质量 (mg) 百分比 % ppm 百分比 % ppm
Bond Wire
Precious Metals
Gold
7440-57-5
0.028271
100.000000
1000000
0.407631
4076
Sub-total
— —
0.028271
100
1000000
0.407631
4076
Die Attach Adhesive
Precious Metals
Silver
7440-22-4
0.061726
79.999482
799995
0.890008
8900
Thermoplastics
Epoxy
85954-11-6
0.015432
20.000518
200005
0.222509
2225
Sub-total
— —
0.077158
100
1000000
1.112517
11125
Lead Frame
Copper and Its Alloys
Copper
7440-50-8
3.215603
97.442486
974425
46.364782
463648
Copper and Its Alloys
Iron
7439-89-6
0.07755
2.349999
23500
1.118169
11182
Copper and Its Alloys
Phosphorus
7723-14-0
0.002723
0.082515
825
0.039262
393
Zinc and Its Alloys
Zinc
7440-66-6
0.004125
0.125000
1250
0.059477
595
Sub-total
— —
3.300001
100
1000000
47.581690
475817
Lead Frame Plating
Nickel and Its Alloys
Nickel
7440-02-0
0.057072
95.120000
951200
0.822903
8229
Precious Metals
Gold
7440-57-5
0.000468
0.780000
7800
0.006748
67
Precious Metals
Palladium
7440-05-3
0.00246
4.100000
41000
0.035470
355
Sub-total
— —
0.060000
100
1000000
0.865121
8651
Mold Compound
Other Inorganic Materials
Fused Silica
60676-86-0
3.07966
93.250013
932500
44.404662
444047
Other Organic Materials
Carbon Black
1333-86-4
0.008256
0.249986
2500
0.119041
1190
Thermoplastics
Epoxy
85954-11-6
0.214668
6.500001
65000
3.095231
30952
Sub-total
— —
3.302584
100
1000000
47.618934
476189
Semiconductor Device
Ceramics / Glass
Doped Silicon
7440-21-3
0.167429
100.000000
1000000
2.414107
24141
Sub-total
— —
0.167429
100
1000000
2.414107
24141
Total
— —
6.935443
— —
100
1000000

认证摘要

应力 基准 最小批量 SS/批次 测试名称/条件 有效期 结果
HTOL JESD22-A108 3 77 Life test, 125C 1000 hours Pass
HTSL JESD22-A103 3 25 High temp storage bake 150C 1000 hours Pass
AC/UHAST JESD22-A102/JESD22-A118 3 25 Autoclave 121C or unbiased HAST 130C / 85% RH 96 hours Pass
THB/HAST JESD22-A101/JESD22-A110 3 25 THB 85C/85%RH or HAST 130C/110C/85%RH 1000 hours or 96 hours Pass
TC JESD22-A104 3 25 Temperature cycle -65/150C 500 cycles Pass
SD J-STD-002 3 22 Per specification >95% lead coverage Pass
HBM JS-001 1 3 ESD - HBM Classification See data sheet
CDM JESD22-C101 1 3 ESD - CDM Classification See data sheet
LU JESD78 1 3 Latch-up Per JESD78 Pass
MSL J-STD-020 — — Per J-STD-020 Classification See data sheet

持续可靠性监测

芯片制造工艺流程可靠性数据。
制造工艺 可靠性测试 滚动式的年度（2025 年第 4 季度 - 2026 年第 3 季度）样本大小 累计样本大小 结论
CMOS Life test 125C, 1000 Hours or Equivalent JEDEC Condition 1232 54768 Pass
装配工艺可靠性数据。
封装系列 可靠性测试 滚动式的年度（2025 年第 4 季度 - 2026 年第 3 季度）样本大小 累计样本大小 结论
SOP/SOT Biased HAST 130C/85%RH, 96 Hours or Equivalent JEDEC Condition 6691 118282 Pass
SOP/SOT High temp storage bake 150C, 1000 Hours or Equivalent JEDEC Condition 4501 92013 Pass
SOP/SOT Temperature cycle -65/150C, 500 Hours or Equivalent JEDEC Condition 11931 221908 Pass
SOP/SOT Unbiased HAST 130C/85% RH, 96 Hours or Equivalent JEDEC Condition 8091 177318 Pass

其他资源

通用质量指南

认证

冲突矿产专用披露报告

如需更多相关信息，请联系 TI 客户支持中心.

关闭

数据类型定义

RoHS

根据欧盟限制使用有害物质 (RoHS) 指令 2011/65/EU（2011 年 7 月 21 日订立）和修订指令 (EU) 2015/863（2019 年 7 月 22 日生效），当指明“RoHS = 是”或“RoHS = 豁免”时，TI 产品是符合 RoHS 标准的。

据 TI 所知，TI 已声明其产品“符合 RoHS 标准”。

• 所含禁用物质不超过 RoHS 规定的最大允许阈值，

 或者

• 在适当的情况下，可能符合 RoHS 附件 III 中铅 (Pb) 的豁免范围，如 "TI RoHS 声明" 所述。

REACH

是: 完全符合欧盟 (EU) RoHS，无需豁免。

受影响: 当含量超过阈值时，仅用于化学品注册、评估、授权和限制 (REACH) 法规中的高度关注物质 (SVHC)。REACH SVHC 不限制使用，但如果含量超出阈值，则必须提供更多信息。

否: 不符合 EU RoHS。

请参阅 TI REACH 声明 ，了解更多详细信息。

器件标识

封装顶部标记。

引脚镀层/焊球材料֙

引脚镀层和焊球成分。

MSL 等级/回流焊峰值温度

潮湿敏感度等级 (MSL) 是美国电子器件工程联合委员会 (JEDEC) 的一项行业标准分类，定义了在进行高温回流焊前产品可安全地暴露于周围环境的时间。

MTBF/FIT 估算

这个合格性测试的目的是确定产品的生命周期，并显示得出这些比率的条件。

材料成分

TI 的材料成分信息基于第三方供应商提供的信息。TI 通过合理努力来提供任何所需或可用的信息。TI 可能尚未对引入的材料和化学品进行破坏性测试或化学分析。TI 及其供应商可能会将特定信息视为专有信息，因此 TI 可能不会发布这些特定信息。材料成分信息由 TI“按原样”提供。

认证摘要

秉承为客户提供高质量产品的宗旨，我们对卓越质量与高可靠性的追求已根植在 TI 文化之中。TI 在开发其半导体技术时的最低目标是，在 105°C 结温下、100,000 小时通电时间内的时基故障 (FIT) 低于 50。TI 的产品开发过程涵盖仿真、加速测试和耐用性评估等过程。在产品开发过程中，TI 会对器件工艺可靠性、封装可靠性和器件/封装间的相互作用进行细致评估。

持续可靠性监测

ORM 计划开展过程中，我们会收集一系列有代表性器件、工艺和封装的环境可靠性压力测试数据。该报告中的 ORM 计划结果数据每个季度都会更新。