主页  >  质量和可靠性  >  质量、可靠性和封装数据下载

质量、可靠性和封装数据下载

LM4040C41ILPR 正在供货

使用此工具进行“搜索”或“下载”即表示您同意遵守 TI 的使用条款, 隐私政策（包括 Cookie 政策）和重要声明。

搜索更多器件

筛选要查看或下载的数据类型

质量数据将根据组装地点而更改

下载 .xls 下载 PDF

Rating

Catalog
RoHS Yes
RoHS Yes
REACH Yes
REACH Yes
器件标识 NFC41I
铅涂层/焊球材料 Sn
铅涂层/焊球材料 Sn
MSL 等级/回流焊峰 Level-NC-NC-NC
MSL 等级/回流焊峰 Level-NC-NC-NC

MTBF/FIT 估算

MTBF/FIT MTBF/FIT 支持数据
MTBF FIT 使用温度 (°C) 置信度 (%) 激活能量 (eV) 测试温度 (°C) 测试持续时间（小时） 样本大小 故障次数 更多建议
8.71x109 0.1 55 60 0.7 125 1000 101758 0 —

材料成分

成分含量 均质物质含量
均质物质 成分 CAS 编号 质量 (mg) 百分比 % ppm 百分比 % ppm
Bond Wire
Precious Metals
Gold
7440-57-5
0.024522
100.000000
1000000
0.012082
121
Sub-total
— —
0.024522
100
1000000
0.012082
121
Die Attach Adhesive
Precious Metals
Silver
7440-22-4
0.040995
75.000000
750000
0.020198
202
Thermoplastics
Epoxy
85954-11-6
0.013665
25.000000
250000
0.006733
67
Sub-total
— —
0.054660
100
1000000
0.026931
269
Lead Frame
Copper and Its Alloys
Copper
7440-50-8
89.589456
99.810000
998100
44.141283
441413
Copper and Its Alloys
Iron
7439-89-6
0.13464
0.150000
1500
0.066338
663
Copper and Its Alloys
Phosphorus
7723-14-0
0.035904
0.040000
400
0.017690
177
Sub-total
— —
89.760000
100
1000000
44.225311
442253
Lead Frame Plating
Other Nonferrous Metals and Alloys
Tin
7440-31-5
0.009
100.000000
1000000
0.004434
44
Sub-total
— —
0.009
100
1000000
0.004434
44
Mold Compound
Other Inorganic Materials
Silica
7631-86-9
80.23138
71.000000
710000
39.530501
395305
Other Organic Materials
Carbon Black
1333-86-4
1.130019
1.000000
10000
0.556767
5568
Other Plastics and Rubber
Silicone
218163-11-2
7.345126
6.500000
65000
3.618989
36190
Thermoplastics
Epoxy
85954-11-6
24.295418
21.500000
215000
11.970504
119705
Sub-total
— —
113.001943
100
1000000
55.676762
556768
Semiconductor Device
Ceramics / Glass
Doped Silicon
7440-21-3
0.110571
100.000000
1000000
0.054479
545
Sub-total
— —
0.110571
100
1000000
0.054479
545
Total
— —
202.960696
— —
100
1000000
成分含量 均质物质含量
均质物质 成分 CAS 编号 质量 (mg) 百分比 % ppm 百分比 % ppm
Bond Wire
Precious Metals
Gold
7440-57-5
0.016828
100.000000
1000000
0.008439
84
Sub-total
— —
0.016828
100
1000000
0.008439
84
Die Attach Adhesive
Precious Metals
Silver
7440-22-4
0.114844
71.000049
710000
0.057593
576
Thermoplastics
Epoxy
85954-11-6
0.046908
28.999951
290000
0.023524
235
Sub-total
— —
0.161752
100
1000000
0.081117
811
Lead Frame
Copper and Its Alloys
Copper
7440-50-8
80.09173
99.865000
998650
40.164980
401650
Copper and Its Alloys
Iron
7439-89-6
0.0802
0.100000
1000
0.040219
402
Copper and Its Alloys
Phosphorus
7723-14-0
0.026065
0.032500
325
0.013071
131
Other Nonferrous Metals and Alloys
Lead
7439-92-1
0.002005
0.002500
25
0.001005
10
Sub-total
— —
80.200000
100
1000000
40.219276
402193
Lead Frame Plating
Other Nonferrous Metals and Alloys
Tin
7440-31-5
0.001
100.000000
1000000
0.000501
5
Sub-total
— —
0.001
100
1000000
0.000501
5
Mold Compound
Other Inorganic Materials
Fused Silica
60676-86-0
91.03126
76.850000
768500
45.651014
456510
Other Organic Materials
Carbon Black
1333-86-4
0.17768
0.150000
1500
0.089104
891
Other Organic Materials
Organic Phosphorus
1330-78-5
0.592266
0.500000
5000
0.297014
2970
Thermoplastics
Epoxy
85954-11-6
26.651963
22.500000
225000
13.365619
133656
Sub-total
— —
118.453169
100
1000000
59.402751
594028
Semiconductor Device
Ceramics / Glass
Doped Silicon
7440-21-3
0.574124
100.000000
1000000
0.287916
2879
Sub-total
— —
0.574124
100
1000000
0.287916
2879
Total
— —
199.406873
— —
100
1000000

认证摘要

应力 基准 最小批量 SS/批次 测试名称/条件 有效期 结果 笔记
HTOL JESD22-A108 3 77 Life test, 125C 1000 hours Pass Or equivalent JEDEC condition
HTSL JESD22-A103 3 25 High temp storage bake, 150C 1000 hours Pass Or equivalent JEDEC condition
AC/UHAST JESD22-A102/JESD22-A118 3 25 Unbiased HAST 130C / 85% RH 96 hours Pass Or equivalent JEDEC condition
THB/HAST JESD22-A101/JESD22-A110 3 25 HAST 130C/85%RH 96 hours Pass Or equivalent JEDEC condition
TC JESD22-A104 3 25 Temperature cycle -65/150C 500 cycles Pass Or equivalent JEDEC condition
SD J-STD-002 3 22 Per specification >95% lead coverage Pass —
HBM JS-001 1 3 ESD - HBM Classification See data sheet —
CDM JS-002 1 3 ESD - CDM Classification See data sheet —
LU JESD78 1 3 Latch-up Per JESD78 Pass As applicable per JESD78
MSL J-STD-020 — — Per J-STD-020 Classification See data sheet —

持续可靠性监测

芯片制造工艺流程可靠性数据。
制造工艺 可靠性测试 滚动式的年度（2025 年第 2 季度 - 2026 年第 1 季度）样本大小 累计样本大小 结论
BIPOLAR Life test 125C, 1000 Hours or Equivalent JEDEC Condition 1540 24692 Pass
制造工艺 可靠性测试 滚动式的年度（2025 年第 2 季度 - 2026 年第 1 季度）样本大小 累计样本大小 结论
Power BICMOS High temperature reverse bias 125C, 1000 Hours or Equivalent JEDEC Condition 462 462 Pass
Power BICMOS Life test 125C, 1000 Hours or Equivalent JEDEC Condition 26863 447408 Pass
装配工艺可靠性数据。
封装系列 可靠性测试 滚动式的年度（2025 年第 2 季度 - 2026 年第 1 季度）样本大小 累计样本大小 结论
TO Biased HAST 130C/85%RH, 96 Hours or Equivalent JEDEC Condition 446 12167 Pass
TO High temp storage bake 150C, 1000 Hours or Equivalent JEDEC Condition 609 7954 Pass
TO Temperature cycle -65/150C, 500 Hours or Equivalent JEDEC Condition 1220 21180 Pass
TO Unbiased HAST 130C/85% RH, 96 Hours or Equivalent JEDEC Condition 700 17955 Pass

其他资源

通用质量指南

认证

冲突矿产专用披露报告

如需更多相关信息，请联系 TI 客户支持中心.

关闭

数据类型定义

RoHS

根据欧盟限制使用有害物质 (RoHS) 指令 2011/65/EU（2011 年 7 月 21 日订立）和修订指令 (EU) 2015/863（2019 年 7 月 22 日生效），当指明“RoHS = 是”或“RoHS = 豁免”时，TI 产品是符合 RoHS 标准的。

据 TI 所知，TI 已声明其产品“符合 RoHS 标准”。

• 所含禁用物质不超过 RoHS 规定的最大允许阈值，

 或者

• 在适当的情况下，可能符合 RoHS 附件 III 中铅 (Pb) 的豁免范围，如 "TI RoHS 声明" 所述。

REACH

是: 完全符合欧盟 (EU) RoHS，无需豁免。

受影响: 当含量超过阈值时，仅用于化学品注册、评估、授权和限制 (REACH) 法规中的高度关注物质 (SVHC)。REACH SVHC 不限制使用，但如果含量超出阈值，则必须提供更多信息。

否: 不符合 EU RoHS。

请参阅 TI REACH 声明 ，了解更多详细信息。

器件标识

封装顶部标记。

引脚镀层/焊球材料֙

引脚镀层和焊球成分。

MSL 等级/回流焊峰值温度

潮湿敏感度等级 (MSL) 是美国电子器件工程联合委员会 (JEDEC) 的一项行业标准分类，定义了在进行高温回流焊前产品可安全地暴露于周围环境的时间。

MTBF/FIT 估算

这个合格性测试的目的是确定产品的生命周期，并显示得出这些比率的条件。

材料成分

TI 的材料成分信息基于第三方供应商提供的信息。TI 通过合理努力来提供任何所需或可用的信息。TI 可能尚未对引入的材料和化学品进行破坏性测试或化学分析。TI 及其供应商可能会将特定信息视为专有信息，因此 TI 可能不会发布这些特定信息。材料成分信息由 TI“按原样”提供。

认证摘要

秉承为客户提供高质量产品的宗旨，我们对卓越质量与高可靠性的追求已根植在 TI 文化之中。TI 在开发其半导体技术时的最低目标是，在 105°C 结温下、100,000 小时通电时间内的时基故障 (FIT) 低于 50。TI 的产品开发过程涵盖仿真、加速测试和耐用性评估等过程。在产品开发过程中，TI 会对器件工艺可靠性、封装可靠性和器件/封装间的相互作用进行细致评估。

持续可靠性监测

ORM 计划开展过程中，我们会收集一系列有代表性器件、工艺和封装的环境可靠性压力测试数据。该报告中的 ORM 计划结果数据每个季度都会更新。