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质量、可靠性和封装数据下载

AM3703CUS 正在供货

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Rating

Catalog
RoHS Yes
REACH Yes
器件标识 AM3703CUS
铅涂层/焊球材料
MSL 等级/回流焊峰 Level-3-260C-168 HR

MTBF/FIT 估算

MTBF/FIT MTBF/FIT 支持数据
MTBF FIT 使用温度 (°C) 置信度 (%) 激活能量 (eV) 测试温度 (°C) 测试持续时间(小时) 样本大小 故障次数 更多建议
5.102x108 1.96 55 60 0.7 130 1000 4676 0

材料成分

成分含量 均质物质含量
均质物质 成分 CAS 编号 质量 (mg) 百分比 % ppm 百分比 % ppm
Mold Compound
Other Inorganic Materials
Fused Silica
60676-86-0
203.668217
90.500000
905000
39.645876
396459
Other Organic Materials
Carbon Black
1333-86-4
1.125239
0.500000
5000
0.219038
2190
Thermoplastics
Epoxy
85954-11-6
20.254298
9.000000
90000
3.942684
39427
Sub-total
225.047754
100
1000000
43.807598
438076
Semiconductor Device
Ceramics / Glass
Doped Silicon
7440-21-3
6.968532
100.000000
1000000
1.356488
13565
Sub-total
6.968532
100
1000000
1.356488
13565
Solder Ball
Copper and Its Alloys
Copper
7440-50-8
0.521446
0.500000
5000
0.101504
1015
Nickel and Its Alloys
Nickel
7440-02-0
0.052145
0.050000
500
0.010150
102
Other Nonferrous Metals and Alloys
Tin
7440-31-5
102.464051
98.249999
982500
19.945562
199456
Precious Metals
Silver
7440-22-4
1.251469
1.200000
12000
0.243610
2436
Sub-total
104.289111
100
1000000
20.300827
203008
Solder Bump
Other Nonferrous Metals and Alloys
Tin
7440-31-5
0.12449
97.699751
976998
0.024233
242
Precious Metals
Silver
7440-22-4
0.002931
2.300249
23002
0.000571
6
Sub-total
0.127421
100
1000000
0.024804
248
Substrate
Ceramics / Glass
Random E-Glass
65997-17-3
25.850494
15.038100
150381
5.032034
50320
Copper and Its Alloys
Copper
7440-50-8
75.32658
43.820000
438200
14.663006
146630
Not Categorized
Proprietary Filler
11.798013
6.863300
68633
2.296591
22966
Other Inorganic Materials
Aluminum Oxide
1344-28-1
0.177401
0.103200
1032
0.034533
345
Other Inorganic Materials
Silicon Dioxide
7631-86-9
16.707477
9.719300
97193
3.252263
32523
Other Nonferrous Metals and Alloys
Barium Sulfate
7727-43-7
4.43502
2.580000
25800
0.863317
8633
Thermoplastics
Epoxy
85954-11-6
37.605016
21.876100
218761
7.320159
73202
Sub-total
171.900001
100
1000000
33.461903
334619
Underfill
Other Inorganic Materials
Silica
7631-86-9
2.504363
46.499999
465000
0.487497
4875
Other Organic Materials
Proprietary Non Halide Flame Retardant
Trade Secret
0.161572
3.000004
30000
0.031451
315
Thermoplastics
Epoxy
85954-11-6
2.719792
50.499997
505000
0.529432
5294
Sub-total
5.385727
100
1000000
1.048381
10484
Total
513.718546
100
1000000

认证摘要

应力 基准 最小批量 SS/批次 测试名称/条件 有效期 结果 笔记
HTOL JESD22-A108 3 77 Life test, 125C 1000 hours Pass Or equivalent JEDEC condition
HTSL JESD22-A103 3 25 High temp storage bake, 150C 1000 hours Pass Or equivalent JEDEC condition
AC/UHAST JESD22-A102/JESD22-A118 3 25 Unbiased HAST 130C / 85% RH 96 hours Pass Or equivalent JEDEC condition
THB/HAST JESD22-A101/JESD22-A110 3 25 HAST 130C/85%RH 96 hours Pass Or equivalent JEDEC condition
TC JESD22-A104 3 25 Temperature cycle -65/150C 500 cycles Pass Or equivalent JEDEC condition
SD J-STD-002 3 22 Per specification >95% lead coverage Pass
HBM JS-001 1 3 ESD - HBM Classification See data sheet
CDM JS-002 1 3 ESD - CDM Classification See data sheet
LU JESD78 1 3 Latch-up Per JESD78 Pass As applicable per JESD78
MSL J-STD-020 Per J-STD-020 Classification See data sheet

持续可靠性监测

未找到结果

其他资源

通用质量指南

认证

冲突矿产专用披露报告

如需更多相关信息,请联系 TI 客户支持中心.

关闭

数据类型定义

RoHS

根据欧盟限制使用有害物质 (RoHS) 指令 2011/65/EU(2011 年 7 月 21 日订立)和修订指令 (EU) 2015/863(2019 年 7 月 22 日生效),当指明“RoHS = 是”或“RoHS = 豁免”时,TI 产品是符合 RoHS 标准的。

据 TI 所知,TI 已声明其产品“符合 RoHS 标准”。

所含禁用物质不超过 RoHS 规定的最大允许阈值,

 或者

在适当的情况下,可能符合 RoHS 附件 III 中铅 (Pb) 的豁免范围,如 "TI RoHS 声明" 所述。

REACH

是: 完全符合欧盟 (EU) RoHS,无需豁免。

受影响: 当含量超过阈值时,仅用于化学品注册、评估、授权和限制 (REACH) 法规中的高度关注物质 (SVHC)。REACH SVHC 不限制使用,但如果含量超出阈值,则必须提供更多信息。

否: 不符合 EU RoHS。

请参阅 TI REACH 声明 ,了解更多详细信息。

器件标识

封装顶部标记。

引脚镀层/焊球材料֙

引脚镀层和焊球成分。

MSL 等级/回流焊峰值温度

潮湿敏感度等级 (MSL) 是美国电子器件工程联合委员会 (JEDEC) 的一项行业标准分类,定义了在进行高温回流焊前产品可安全地暴露于周围环境的时间。

MTBF/FIT 估算

这个合格性测试的目的是确定产品的生命周期,并显示得出这些比率的条件。

材料成分

TI 的材料成分信息基于第三方供应商提供的信息。TI 通过合理努力来提供任何所需或可用的信息。TI 可能尚未对引入的材料和化学品进行破坏性测试或化学分析。TI 及其供应商可能会将特定信息视为专有信息,因此 TI 可能不会发布这些特定信息。材料成分信息由 TI“按原样”提供。

认证摘要

秉承为客户提供高质量产品的宗旨,我们对卓越质量与高可靠性的追求已根植在 TI 文化之中。TI 在开发其半导体技术时的最低目标是,在 105°C 结温下、100,000 小时通电时间内的时基故障 (FIT) 低于 50。TI 的产品开发过程涵盖仿真、加速测试和耐用性评估等过程。在产品开发过程中,TI 会对器件工艺可靠性、封装可靠性和器件/封装间的相互作用进行细致评估。

持续可靠性监测

ORM 计划开展过程中,我们会收集一系列有代表性器件、工艺和封装的环境可靠性压力测试数据。该报告中的 ORM 计划结果数据每个季度都会更新。