MMBZ27VAL-Q1
- IEC 61000-4-2 ESD protection:
- ±30kV contact discharge
- ±30kV air-gap discharge
- IEC 61643-321 surge protection:
- Up to 1.7A (10/1000µs)
- Low leakage current: 50nA (max)
- Temperature range: –55°C to +150°C
- Leaded packages used for automatic optical inspection (AOI)
- AEC-Q101 qualified
The MMBZxxVAL-Q1 is a dual channel unidirectional or single channel bidirectional ESD in common anode configuration. The device’s relatively low capacitance and low leakage features enable use in higher speed applications.
The MMBZxxVAL-Q1 is packaged in the SOT-23, providing two channels of robust transient protection in one space-efficient form factor.
技術文件
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| 重要文件 | 類型 | 標題 | 格式選項 | 下載最新的英文版本 | 日期 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 資料表 | MMBZxxVAL-Q1 Dual Channel Zener Diode for Automotive Applications datasheet | PDF | HTML | 2025/6/11 |
設計與開發
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開發板
ESDEVM — 適用於 ESD 二極體封裝的通用評估模組，包括 0402、0201等
靜電敏感裝置 (ESD) 評估模組 (EVM) 是我們大多數 ESD 產品組合的開發平台。此電路板配備所有傳統 ESD 元件封裝，可測試任意數量的裝置。裝置可以焊接到其相應的元件封裝上，然後進行測試。對於一般高速 ESD 二極體，會實作阻抗控制的配置以取得 S 參數並取消內嵌電路板軌跡。對於非高速 ESD 二極體，其元件封裝會包含連接至測試點的軌跡，讓您輕鬆執行 DC 測試，例如崩潰電壓、保持電壓、洩漏等。電路板配置也可以透過將訊號針腳短路到訊號所在的任何地方，讓任何裝置針腳都能輕鬆地連接到電源 (VCC) 或接地。
| 封裝 | 針腳 | CAD 符號、佔位空間與 3D 模型 |
|---|---|---|
| SOT-23 (DBZ) | 3 | Ultra Librarian |
訂購與品質
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