TPD4E6B06
- IEC 61000-4-2 Level 4
- ±15-kV Contact Discharge
- ±15-kV Air Gap Discharge
- IEC 61000-4-5 (Surge): 3 A (8/20 µs)
- IO Capacitance: 4.8 pF (Typical)
- RDYN: 0.75 Ω (Typical)
- DC Breakdown Voltage: ±6 V (Minimum)
- Ultra Low Leakage Current: 100 nA (Maximum)
- Clamping Voltage: 10 V (Maximum at IPP = 1 A)
- Industrial Temperature Range: –40°C to +125°C
- Space Saving DPW Package (0.8 mm × 0.8 mm)
The TPD4E6B06 is a four channel electrostatic discharge (ESD) protection device in an ultra small DPW package. It is the industry’s smallest 4-channel transient voltage suppressor (TVS) diode with a 0.48-mm pitch. This larger pitch helps save on printed-circuit board (PCB) manufacturing costs. The device provides IEC61000-4-2 compliance up to 15-kV contact discharge. It has an ESD clamp circuit with back-to-back diodes for bipolar-bidirectional signal support. The 4.8-pF (typical) line capacitance is suitable for a wide range of applications supporting data rates up to 700 MHz.
기술 자료
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7개 모두 보기
| 상위 문서 | 유형 | 직함 | 형식 옵션 | 최신 영어 버전 다운로드 | 날짜 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 데이터 시트 | TPD4E6B06 4-Channel Bidirectional Low Capacitance ESD Protection Device With 15-kV Contact and Ultra-Low Clamping Voltage datasheet (Rev. C) | PDF | HTML | 2017. 2. 23 | ||
| 사용 설명서 | Reading and Understanding an ESD Protection Data Sheet (Rev. A) | PDF | HTML | 2023. 9. 19 | |||
| 애플리케이션 노트 | ESD Packaging and Layout Guide (Rev. B) | PDF | HTML | 2022. 8. 18 | |||
| 애플리케이션 노트 | ESD Protection Layout Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2022. 4. 7 | |||
| 사용 설명서 | Generic ESD Evaluation Module User's Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2021. 9. 27 | |||
| 백서 | Designing USB for short-to-battery tolerance in automotive environments | 2016. 2. 10 | ||||
| 아날로그 디자인 학술지 | Design Considerations for System-Level ESD Circuit Protection | 2012. 9. 25 |
설계 및 개발
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평가 보드
ESDEVM — 0402, 0201 등을 포함한 ESD 다이오드 패키지용 범용 평가 모듈
ESD(정전기에 민감한 장치) EVM(평가 모듈)은 대부분의 ESD 포트폴리오를 위한 개발 플랫폼입니다. 이 보드에는 디바이스의 수를 테스트할 수 있도록 기존의 모든 ESD 풋프린트가 함께 제공됩니다. 장치를 적절한 풋프린트에 납땜한 후 테스트할 수 있습니다. 일반적인 고속 ESD 다이오드의 경우 S 매개 변수를 받고 보드 트레이스를 임베드하기 위해 임피던스 제어 레이아웃이 구현되어 있습니다. 비 고속 ESD 다이오드의 경우 고장 전압, 유지 전압, 누설 등의 DC 테스트를 쉽게 실행할 수 있도록 테스트 지점으로 가는 트레이스가 (...)
재고 있음
제한:
??asset.out-of-stock-ti_ko_KR??
이용할 수 없음
| 패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
|---|---|---|
| X2SON (DPW) | 4 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.