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SN54SC1G08-SEP

활성

Radiation-tolerant, 1-ch, 2-input AND gate

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데이터 시트

SN54SC1G08-SEP

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제품 상세 정보

Technology family SCxT Number of channels 1 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Input type CMOS Output type Push-Pull Features Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns), Very high speed (tpd 5-10ns) Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family SCxT Number of channels 1 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Input type CMOS Output type Push-Pull Features Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns), Very high speed (tpd 5-10ns) Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² (2.9 mm × 2.8 mm)
  • VID V62/26601
  • Radiation - total ionizing dose (TID):
    • TID characterized up to 50krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
  • Radiation - single-event effects (SEE):
    • Single event latch-up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single event transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg

  • Wide operating range from 1.2V to 5.5V

  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78
  • Space enhanced plastic:
    • Supports Defense and Aerospace Applications
    • Controlled baseline
    • Au bond-wire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 out gassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
  • VID V62/26601
  • Radiation - total ionizing dose (TID):
    • TID characterized up to 50krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
  • Radiation - single-event effects (SEE):
    • Single event latch-up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single event transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg

  • Wide operating range from 1.2V to 5.5V

  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78
  • Space enhanced plastic:
    • Supports Defense and Aerospace Applications
    • Controlled baseline
    • Au bond-wire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 out gassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability

The SN54SC1G08-SEP device is a single 2-input positive-AND gate. This device performs the Boolean function Y = A • B or Y = Ā + B̅ in positive logic.

The SN54SC1G08-SEP device is a single 2-input positive-AND gate. This device performs the Boolean function Y = A • B or Y = Ā + B̅ in positive logic.
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상위 문서 유형 직함 형식 옵션 최신 영어 버전 다운로드 날짜
* 데이터 시트 SN54SC1G08-SEP Radiation Tolerant Single 2-Input Positive-AND Gate datasheet PDF | HTML 2026. 5. 4
* 방사능 및 안정성 보고서 SN54SC1G08-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report 2026. 4. 30
* 방사능 및 안정성 보고서 SN54SC1G08-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2026. 4. 1
* 방사능 및 안정성 보고서 SN54SC1G08-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report PDF | HTML 2025. 4. 30

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

5-8-LOGIC-EVM — 5핀~8핀 DCK, DCT, DCU, DRL 및 DBV 패키지용 일반 논리 평가 모듈

5~8핀 수의 DCK, DCT, DCU, DRL 또는 DBV 패키지가 있는 모든 디바이스를 지원하도록 설계된 유연한 EVM.
사용 설명서: PDF
지원되는 제품 및 하드웨어
재고 있음
제한:
??asset.out-of-stock-ti_ko_KR??
이용할 수 없음
패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

콘텐츠는 TI 및 커뮤니티 기고자에 의해 "있는 그대로" 제공되며 TI의 사양으로 간주되지 않습니다. 사용 약관을 참조하십시오.

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