SN54AC00-SP
- 5962R87549:
- Radiation hardness assurance (RHA) up to TID 100 krad (Si)
- SEL immune to 86 MeV×cm2/mg
- 5962-87549:
- Total ionizing dose 50 krad (Si)
- 2 V to 6 V VCC operation
- Inputs accept voltages to 6 V
- Maximum tpd of 7 ns at 5 V
The SN54AC00 device contains four independent 2-input NAND gates. Each gate performs the Boolean function of Y = A • B or Y = A + B in positive logic.
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기술 자료
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| 상위 문서 | 유형 | 직함 | 형식 옵션 | 최신 영어 버전 다운로드 | 날짜 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 데이터 시트 | SN54AC00-SP Radiation Hardened Quad 2 Input NAND Gate datasheet (Rev. C) | PDF | HTML | 2022. 4. 4 | ||
| * | 방사능 및 안정성 보고서 | 54AC00-SP Radiation Assured Devices | 2016. 4. 21 | |||
| * | SMD | SN54AC00-SP SMD 5962-87549 | 2016. 7. 8 |