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LM211-EP

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스트로브를 지원하는 향상된 제품 차동 콤퍼레이터

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제품 상세 정보

Number of channels 1 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 0.115 Vs (max) (V) 30 Vs (min) (V) 3.5 Rating HiRel Enhanced Product Features Strobe, Vos Adj Pin Iq per channel (typ) (mA) 5.1 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 3 Rail-to-rail No Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 100 VICR (max) (V) 28 VICR (min) (V) 0.5
Number of channels 1 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 0.115 Vs (max) (V) 30 Vs (min) (V) 3.5 Rating HiRel Enhanced Product Features Strobe, Vos Adj Pin Iq per channel (typ) (mA) 5.1 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 3 Rail-to-rail No Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 100 VICR (max) (V) 28 VICR (min) (V) 0.5
SOIC (D) 8 29.4 mm² (4.9 mm × 6 mm)
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Fast Response Times
  • Strobe Capability
  • Maximum Input Bias Current . . . 300 nA
  • Maximum Input Offset Current . . . 70 nA
  • Can Operate From Single 5-V Supply

(1)Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold-compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Fast Response Times
  • Strobe Capability
  • Maximum Input Bias Current . . . 300 nA
  • Maximum Input Offset Current . . . 70 nA
  • Can Operate From Single 5-V Supply

(1)Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold-compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

The LM211-EP is a single high-speed voltage comparator. This device is designed to operate from a wide range of power-supply voltages, including ±15-V supplies for operational amplifiers and 5-V supplies for logic systems. The output levels are compatible with most TTL and MOS circuits. This comparator is capable of driving lamps or relays and switching voltages up to 50 V at 50 mA. All inputs and outputs can be isolated from system ground. The outputs can drive loads referenced to ground, VCC+ or VCC-. Offset balancing and strobe capabilities are available, and the outputs can be wired-OR connected. If the strobe is low, the output is in the off state, regardless of the differential input.

The LM211-EP is a single high-speed voltage comparator. This device is designed to operate from a wide range of power-supply voltages, including ±15-V supplies for operational amplifiers and 5-V supplies for logic systems. The output levels are compatible with most TTL and MOS circuits. This comparator is capable of driving lamps or relays and switching voltages up to 50 V at 50 mA. All inputs and outputs can be isolated from system ground. The outputs can drive loads referenced to ground, VCC+ or VCC-. Offset balancing and strobe capabilities are available, and the outputs can be wired-OR connected. If the strobe is low, the output is in the off state, regardless of the differential input.
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기술 자료

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상위 문서 유형 직함 형식 옵션 최신 영어 버전 다운로드 날짜
* 데이터 시트 LM211-EP datasheet (Rev. A) 2006. 2. 22
* 방사능 및 안정성 보고서 LM211MDREP Reliability Report 2012. 5. 7
* VID LM211-EP VID V6203638 2016. 6. 21
e북 The Signal e-book: A compendium of blog posts on op amp design topics PDF | HTML 2017. 3. 28

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

AMP-PDK-EVM — 증폭기 성능 개발 키트 평가 모듈

증폭기 성능 개발 키트(PDK)는 일반적인 연산 증폭기(OP 앰프) 매개 변수를 테스트할 수 있는 평가 모듈(EVM) 키트입니다. 대부분의 연산 증폭기 및 콤퍼레이터와 호환됩니다. EVM 키트는 패키지 요구 사항에 맞는 여러 소켓형 부속 카드 옵션이 있는 메인 보드를 제공하여 엔지니어가 디바이스 성능을 신속하게 평가하고 확인할 수 있습니다.

AMP-PDK-EVM 키트는 다음을 포함해 가장 널리 사용되는 5개의 업계 표준 패키지를 지원합니다.

  • D(SOIC-8 및 SOIC-14)
  • PW(TSSOP-14)
  • DGK(VSSOP-8)
  • (...)
사용 설명서: PDF | HTML
지원되는 제품 및 하드웨어
패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
SOIC (D) 8 Ultra Librarian
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주문 및 품질

권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

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