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INA950-SEP

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우주항공 강화 제품, 2.7V~80V, 1.1MHz, 공통 모드, 초정밀, 전류 감지 증폭기

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제품 상세 정보

Product type Analog output Common-mode voltage (max) (V) 80 Common-mode voltage (min) (V) 2.7 Input offset (±) (max) (µV) 25 Input offset drift (±) (typ) (µV/°C) 0.05 Features High frequency, Ultra precise Rating Space Voltage gain (V/V) 20 CMRR (min) (dB) 140 Bandwidth (kHz) 1100 Supply voltage (max) (V) 5.5 Supply voltage (min) (V) 2.7 Iq (max) (mA) 0.37 Number of channels 1 Comparators (#) 0 Gain error (%) 0.1 Gain error drift (±) (max) (ppm/°C) 5 Slew rate (V/µs) 2 Operating temperature range (°C) -55 to 125
Product type Analog output Common-mode voltage (max) (V) 80 Common-mode voltage (min) (V) 2.7 Input offset (±) (max) (µV) 25 Input offset drift (±) (typ) (µV/°C) 0.05 Features High frequency, Ultra precise Rating Space Voltage gain (V/V) 20 CMRR (min) (dB) 140 Bandwidth (kHz) 1100 Supply voltage (max) (V) 5.5 Supply voltage (min) (V) 2.7 Iq (max) (mA) 0.37 Number of channels 1 Comparators (#) 0 Gain error (%) 0.1 Gain error drift (±) (max) (ppm/°C) 5 Slew rate (V/µs) 2 Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 8 19.2 mm² 3 x 6.4
  • VID V62/25635
  • Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
    • TID performance assurance up to 30krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
  • Radiation - Single-Event Effects (SEE):
    • Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 43MeV-cm2 /mg at 125°C
    • Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 47.5MeV-cm2 /mg
  • Space Enhanced Plastic
    • Operating temperature from –55°C to +125°C
    • Controlled baseline
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
    • Outgassing test performed per ASTM E595
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
  • Wide common-mode voltage:
    • Operational voltage: 2.7V to 80V
    • Survival voltage: −20V to 85V
  • Excellent CMRR:
    • 160dB DC
    • 85dB AC at 50kHz
  • Gain of 20V/V
    • Gain error: ±0.1% (maximum)
    • Gain drift: ±1.5ppm/°C
  • Offset voltage: ±12µV (maximum)
  • Offset drift: ±0.05µV/°C
  • High bandwidth: 1.1MHz
  • Slew rate: 2V/µs
  • Quiescent current: 370µA
  • VID V62/25635
  • Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
    • TID performance assurance up to 30krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
  • Radiation - Single-Event Effects (SEE):
    • Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 43MeV-cm2 /mg at 125°C
    • Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 47.5MeV-cm2 /mg
  • Space Enhanced Plastic
    • Operating temperature from –55°C to +125°C
    • Controlled baseline
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
    • Outgassing test performed per ASTM E595
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
  • Wide common-mode voltage:
    • Operational voltage: 2.7V to 80V
    • Survival voltage: −20V to 85V
  • Excellent CMRR:
    • 160dB DC
    • 85dB AC at 50kHz
  • Gain of 20V/V
    • Gain error: ±0.1% (maximum)
    • Gain drift: ±1.5ppm/°C
  • Offset voltage: ±12µV (maximum)
  • Offset drift: ±0.05µV/°C
  • High bandwidth: 1.1MHz
  • Slew rate: 2V/µs
  • Quiescent current: 370µA

The INA950-SEP is an ultra-precise, current-sense amplifier that can measure voltage drops across shunt resistors over a wide common-mode range from 2.7V to 80V. The ultra-precise current measurement accuracy is achieved thanks to the combination of an ultra-low offset voltage of ±12µV (maximum), a small gain error of ±0.1% (maximum), and a high DC CMRR of 160dB (typical). The INA950-SEP is not only designed for DC current measurement, but also for high-speed applications (such as fast overcurrent protection, for example) with a high bandwidth of 1.1MHz and an 85dB AC CMRR (at 50kHz).

The INA950-SEP provides the capability to make ultra-precise current measurements by sensing the voltage drop across a shunt resistor over a wide common- mode range from 2.7V to 80V. The INA950-SEP is available in the TSSOP-8 package.

The INA950-SEP operates from a single 2.7V to 5.5V supply while only drawing 370µA from the supply (typical). The low offset of the zero-drift architecture enables current sensing with low ohmic shunts as specified over the operating temperature range (−55°C to 125°C).

The INA950-SEP is an ultra-precise, current-sense amplifier that can measure voltage drops across shunt resistors over a wide common-mode range from 2.7V to 80V. The ultra-precise current measurement accuracy is achieved thanks to the combination of an ultra-low offset voltage of ±12µV (maximum), a small gain error of ±0.1% (maximum), and a high DC CMRR of 160dB (typical). The INA950-SEP is not only designed for DC current measurement, but also for high-speed applications (such as fast overcurrent protection, for example) with a high bandwidth of 1.1MHz and an 85dB AC CMRR (at 50kHz).

The INA950-SEP provides the capability to make ultra-precise current measurements by sensing the voltage drop across a shunt resistor over a wide common- mode range from 2.7V to 80V. The INA950-SEP is available in the TSSOP-8 package.

The INA950-SEP operates from a single 2.7V to 5.5V supply while only drawing 370µA from the supply (typical). The low offset of the zero-drift architecture enables current sensing with low ohmic shunts as specified over the operating temperature range (−55°C to 125°C).
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* Data sheet INA950-SEP 2.7V to 80V, 1.1MHz, Ultra-Precise, Current-Sense Amplifier datasheet PDF | HTML 2025/03/11
* Radiation & reliability report INA950-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report (Rev. A) 2025/03/14
* Radiation & reliability report INA950-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Test Report (Rev. B) PDF | HTML 2025/03/13
* Radiation & reliability report INA950-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2025/02/27
Application brief Precision High-Voltage Current Sensing Using Zener-Shifted Floating Ground and Isolated Digital Interface PDF | HTML 2025/12/10
Selection guide TI Space Products (Rev. K) 2025/04/04

설계 및 개발

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시뮬레이션 모델

INA950-SEP PSpice Model Reference

SBOMCN0.ZIP (1160 KB) - PSpice Model
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시뮬레이션 모델

INA950-SEP Spice Model

SWCM009.ZIP (59 KB) - TISpice Model
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계산 툴

ANALOG-ENGINEER-CALC — PC software analog engineer's calculator

The analog engineer’s calculator is designed to speed up many of the repetitive calculations that analog circuit design engineers use on a regular basis. This PC-based tool provides a graphical interface with a list of various common calculations ranging from setting operational-amplifier (...)

지원되는 제품 및 하드웨어

지원되는 제품 및 하드웨어
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설계 툴

CIRCUIT060035 — 윈도우 콤퍼레이터 회로를 사용한 양방향 전류 감지

이 양방향 전류 센싱 솔루션은 레일 간 입력 공통 모드 범위가 탑재된 전류 센스 증폭기와 고속 이중 비교기를 사용하여 비교기 출력(OUTA 및 OUTB)에서 OC(과전류) 알림 신호를 생성합니다. 입력 전류(IG1)가 100A를 초과하거나 -35A 미만으로 떨어지면 이 구현에서 두 과전류 경고 신호가 모두 높은 상태로 활성화되므로 100A 또는 -35A 임계값을 넘으면 비교기 출력이 높아집니다. 외부 이력 결과는 두 콤퍼레이터에 구현되어 있어, 전류가 10%(90A 및 -31A)까지 감소하면 콤퍼레이터 출력이 로직 로우 상태로 (...)
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설계 툴

CIRCUIT060037 — 정밀 과전류 래치 회로

이 고압측 전류 감지 솔루션은 전류 감지 증폭기, 통합 레퍼런스를 지원하는 콤퍼레이터 및 P-채널 MOSFET을 사용하여 과전류 래치 회로를 생성합니다. 200mA보다 큰 부하 전류가 감지되면 회로는 시스템을 전원에서 분리합니다. 콤퍼레이터 출력이 P 채널 MOSFET의 게이트를 구동하여 전류 감지 증폭기의 레퍼런스 핀에 신호를 다시 공급하므로 회로에 전원이 공급될 때까지 P 채널 MOSFET의 게이트 소스 전압을 0으로 유지합니다.
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시뮬레이션 툴

PSPICE-FOR-TI — TI 설계 및 시뮬레이션 툴용 PSpice®

TI용 PSpice®는 아날로그 회로의 기능을 평가하는 데 사용되는 설계 및 시뮬레이션 환경입니다. 완전한 기능을 갖춘 이 설계 및 시뮬레이션 제품군은 Cadence®의 아날로그 분석 엔진을 사용합니다. 무료로 제공되는 TI용 PSpice에는 아날로그 및 전력 포트폴리오뿐 아니라 아날로그 행동 모델에 이르기까지 업계에서 가장 방대한 모델 라이브러리 중 하나가 포함되어 있습니다.

TI 설계 및 시뮬레이션 환경용 PSpice는 기본 제공 라이브러리를 이용해 복잡한 혼합 신호 설계를 시뮬레이션할 수 있습니다. 레이아웃 및 제작에 착수하기 (...)
요청
시뮬레이션 툴

TINA-TI — SPICE 기반 아날로그 시뮬레이션 프로그램

TINA-TI provides all the conventional DC, transient and frequency domain analysis of SPICE and much more. TINA has extensive post-processing capability that allows you to format results the way you want them. Virtual instruments allow you to select input waveforms and probe circuit nodes voltages (...)
사용 설명서: PDF
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패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
TSSOP (PW) 8 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

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