AFE3256

활성

동적 및 반동적 X-선 평판 패널 감지기용 256채널 아날로그 프론트 엔드(AFE)

제품 상세 정보

Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
COF (TFU) 320 1064 mm² (38 mm × 28 mm) COF (TFV) 315 831.84 mm² (48 mm × 17.33 mm)
  • 256 channels
  • On-chip, 16-bit ADC
  • High performance:
    • Noise: 440 electrons RMS (1.2-pC input charge range)
    • Low correlated noise
    • Full-channel integral nonlinearity: ±2 LSB at 16 bit
    • Scan time: < 16 µs to 204.8 µs
  • Integration:
    • Programmable full-scale input charge range: 0.3pC to 12.5pC with resolution of 0.3pC
    • Internal timing generator (TG)
    • Built-in correlated double sampler
    • Software programmable electron or hole integration mode
    • Pipelined integrate-and-read for improved throughput—data-read during integration
    • Serial LVDS output
    • On-chip temperature sensor
  • Simple power supply scheme:
    • Single 1.85V power supply operation
  • Multiple power modes with power consumption ranging from 1mW/ch to 2mW/ch
  • Power-down modes: sleep and standby
  • Binning mode support
  • Custom chip-on-film (COF) packages
  • 256 channels
  • On-chip, 16-bit ADC
  • High performance:
    • Noise: 440 electrons RMS (1.2-pC input charge range)
    • Low correlated noise
    • Full-channel integral nonlinearity: ±2 LSB at 16 bit
    • Scan time: < 16 µs to 204.8 µs
  • Integration:
    • Programmable full-scale input charge range: 0.3pC to 12.5pC with resolution of 0.3pC
    • Internal timing generator (TG)
    • Built-in correlated double sampler
    • Software programmable electron or hole integration mode
    • Pipelined integrate-and-read for improved throughput—data-read during integration
    • Serial LVDS output
    • On-chip temperature sensor
  • Simple power supply scheme:
    • Single 1.85V power supply operation
  • Multiple power modes with power consumption ranging from 1mW/ch to 2mW/ch
  • Power-down modes: sleep and standby
  • Binning mode support
  • Custom chip-on-film (COF) packages

The AFE3256 is a 256-channel, analog front-end (AFE) designed to suit the requirements of flat-panel detector (FPD) based digital X-ray systems. The device includes 256 integrators, correlated double samplers (CDSs) with dual banking, and 256:2 analog multiplexers. The device also features two 16-bit successive-approximation register (SAR) analog-to-digital converters (ADCs). Serial data from the ADCs are available in low-voltage differential signaling (LVDS) format.

The device, also commonly referred to as a readout integrated circuit (ROIC), optimizes the overall system performance using features such as multiple power modes and in-system debug options.

The sleep and standby modes enable substantial power saving which is critical for battery-powered systems.

The AFE3256 is a 256-channel, analog front-end (AFE) designed to suit the requirements of flat-panel detector (FPD) based digital X-ray systems. The device includes 256 integrators, correlated double samplers (CDSs) with dual banking, and 256:2 analog multiplexers. The device also features two 16-bit successive-approximation register (SAR) analog-to-digital converters (ADCs). Serial data from the ADCs are available in low-voltage differential signaling (LVDS) format.

The device, also commonly referred to as a readout integrated circuit (ROIC), optimizes the overall system performance using features such as multiple power modes and in-system debug options.

The sleep and standby modes enable substantial power saving which is critical for battery-powered systems.

다운로드 스크립트와 함께 비디오 보기 비디오
추가 정보 요청

전체 데이터 시트를 사용할 수 있습니다. 지금 요청

기술 자료

검색된 결과가 없습니다. 검색어를 지우고 다시 시도하세요.
3개 모두 보기
상위 문서 유형 직함 형식 옵션 최신 영어 버전 다운로드 날짜
* 데이터 시트 AFE3256 256-Channel, Analog Front-End for Digital X-Ray, Flat-Panel Detectors datasheet (Rev. A) PDF | HTML 2024. 4. 24
인증서 AFE3256EVM EU Declaration of Conformity (DoC) PDF | HTML 2023. 9. 18
아날로그 디자인 학술지 Selecting a multichannel ultra-low-current measurement IC PDF | HTML 2022. 3. 18

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

AFE3256EVM — X선 평판 감지기용 256채널 AFE(아날로그 프론트 엔드)용 AFE3256 평가 모듈

AFE3256 평가 모듈(EVM)은 COF(Chip-on-Flex) 패키지의 저전력, 저잡음 충전 판독 IC(충전-디지털 컨버터)인 AFE3256 장치를 평가하는 데 사용됩니다. 이 EVM은 데이터 캡처를 위해 TSWDC155EVM(FPGA EVM)과 원활하게 통합된 아날로그 보드로 구성됩니다. 이 EVM에는 필요한 제어 신호와 온보드 전력 생성 기능이 모두 포함되어 있어 외부 장비의 필요성을 크게 줄여줍니다. 또한 EVM에는 Microsoft® Windows®용 사용하기 쉬운 소프트웨어가 포함되어 있어 장치 기능과 성능을 (...)

지원되는 제품 및 하드웨어
패키지 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
COF (TFU) 320 Ultra Librarian
COF (TFV) 315 Ultra Librarian

주문 및 품질

권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

콘텐츠는 TI 및 커뮤니티 기고자에 의해 "있는 그대로" 제공되며 TI의 사양으로 간주되지 않습니다. 사용 약관을 참조하십시오.

품질, 패키징, TI에서 주문하는 데 대한 질문이 있다면 TI 지원을 방문하세요. ​​​​​​​​​​​​​​

동영상