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SN54SC1G125-SEP

AKTIV

Radiation-tolerant, single channel buffer with triple-state outputs

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Datenblatt

SN54SC1G125-SEP

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Produktdetails

Rating Space Operating temperature range (°C) to
Rating Space Operating temperature range (°C) to
SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² (2.9 mm × 2.8 mm)
  • VID V62/26602
  • Radiation - total ionizing dose (TID):
    • TID characterized up to 50krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
  • Radiation - single-event effects (SEE):
    • Single event latch-up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single event transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg

  • Wide operating range from 1.2V to 5.5V

  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78
  • Space enhanced plastic:
    • Supports Defense and Aerospace Applications
    • Controlled baseline
    • Au bond-wire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 out gassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
  • VID V62/26602
  • Radiation - total ionizing dose (TID):
    • TID characterized up to 50krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
  • Radiation - single-event effects (SEE):
    • Single event latch-up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single event transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg

  • Wide operating range from 1.2V to 5.5V

  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78
  • Space enhanced plastic:
    • Supports Defense and Aerospace Applications
    • Controlled baseline
    • Au bond-wire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 out gassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability

The SN54SC1G125-SEP is a single line driver with a 3-state output. The output is disabled when the output-enable (OE) input pin is at a logic high level. When (OE) is at a logic low level, true data is passed from the A input to the Y output.

The SN54SC1G125-SEP is a single line driver with a 3-state output. The output is disabled when the output-enable (OE) input pin is at a logic high level. When (OE) is at a logic low level, true data is passed from the A input to the Y output.
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Technische Dokumentation

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Top-Dokumentation Typ Titel Format-Optionen Neueste englische Version herunterladen Datum
* Datenblatt SN54SC1G125-SEP Radiation Tolerant, Single Bus Buffer Gate With 3-State Output datasheet (Rev. A) PDF | HTML 05.05.2026
* Strahlungs- und Zuverlässigkeitsbericht SN54SC1G125-SEP Total Ionizing Dose (TID) 30.04.2026
* Strahlungs- und Zuverlässigkeitsbericht SN54SC1G125-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report PDF | HTML 29.04.2026
* Strahlungs- und Zuverlässigkeitsbericht SN54SC1G125-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 01.04.2026

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Evaluierungsplatine

5-8-LOGIC-EVM — Generisches Logik-Evaluierungsmodul für 5- bis 8-polige DCK-, DCT-, DCU-, DRL- und DBV-Gehäuse

Flexibles EVM zur Unterstützung aller Geräte mit 5- bis 8-poligem DCK-, DCT-, DCU-, DRL- oder DBV-Gehäuse.
Benutzerhandbuch: PDF
Unterstützte Produkte und Hardware
Vorrätig
Limit:
??asset.out-of-stock-ti_de_DE??
Nicht verfügbar
Gehäuse Pins CAD-Symbole, Footprints und 3D-Modelle
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
Es gelten die allgemeinen Geschäftsbedingungen von TI für Evaluierungsartikel.

Bestellen & Qualität

Support und Schulungen

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Bei Fragen zu den Themen Qualität, Gehäuse oder Bestellung von TI-Produkten siehe TI-Support. ​​​​​​​​​​​​​​

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