封装信息
| 封装 | 引脚 VQFN (RSH) | 56 |
| 工作温度范围 (°C) 0 to 85 |
| 包装数量 | 包装 2,500 | LARGE T&R |
VSP5612 的特性
- 四通道 CCD/CMOS 信号：2 通道、4 通道或 4 通道（可选）
- 电源： 仅限 3.3V（典型值）
（内置 LDO，3.3V 至 1.8V） - 最大转换速率：
- VSP5610: 35 MSPS
- VSP5611: 50 MSPS
- VSP5612: 70 MSPS
- 16 位分辨率
- CDS/SH（可选）
- 最大输入信号范围：2.0V
- 模拟和数字混合增益：
- 模拟增益：3/64-V/V 步骤中为
0.5V/V 至 3.5V/V - 数字增益：1/256-V/V 步骤中为
1V/V 至 2V/V
- 模拟增益：3/64-V/V 步骤中为
- 偏移校正 DAC：±250mV、8 位
- 标准 LVDS/CMOS 可选输出：
- LVDS：
- 数据通道：2 通道、3 通道
- 时钟通道：1 通道
- 8 位/7 位串行器（可选）
- CMOS：
- 4 位 × 4、8 位 × 2
- LVDS：
- 定时发生器：
- 快速传输时钟：八个信号
- 慢速传输时钟：六个信号
- 定时调节分辨率：tMCLK/48
- 输入钳位/输入参考级别内部/外部（可选）
- 参考 DAC: 0.5V、1.1V、1.5V、2V
- SPI™：三线串行
- GPIO：四端口
- 复印机
- 传真机
- 扫描仪
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VSP5612 的说明
VSP5610/11/12 为高速、高性能 16 位模数转换器 (ADC)，具有四个独立的采样电路通道，用于多路输出充电耦合设备 (CCD) 及互补金属氧化物半导体 (CMOS) 系列传感器。 传感器的像素数据由采样/保持 (SH) 或相关双采样 (CDS) 电路采样，然后由 ADC 转化为数字数据。 数据输出在低电压差动信号 (LVDS) 或 CMOS 模式下可选。
VSP5610/11/12 包括一个可编程增益，支持亮度引起的像素级反射。 集成数模转换器 (DAC) 可用于调节模拟输入信号的偏移级别。 此外，定时发生器 (TG) 和一些控制传感器运行的器件集成。
VSP5610/11/12 使用 1.65V 至 1.95V 用于内核电压，3.0V 至 3.6V 用于 I/O。 内核电压由内置低压降稳压器 (LDO) 提供。