ZHCSKS9C February   2020  – September 2025 BQ27Z561-R2

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 引脚配置和功能
  6. 5 规格
    1. 5.1  绝对最大额定值
    2. 5.2  ESD 等级
    3. 5.3  建议运行条件
    4. 5.4  热性能信息
    5. 5.5  电源电流
    6. 5.6  内部 1.8V LDO (REG18)
    7. 5.7  I/O（PULS，INT）
    8. 5.8  芯片使能 (CE)
    9. 5.9  内部温度传感器
    10. 5.10 NTC 热敏电阻测量支持
    11. 5.11 库仑计 (CC)
    12. 5.12 模数转换器 (ADC)
    13. 5.13 内部振荡器规格
    14. 5.14 电压基准 1 (REF1)
    15. 5.15 电压基准 2 (REF2)
    16. 5.16 闪存存储器
    17. 5.17 I2C I/O
    18. 5.18 I2C 时序 - 100kHz
    19. 5.19 I2C 时序 - 400kHz
    20. 5.20 HDQ 时序
    21. 5.21 典型特性
  7. 6 详细说明
    1. 6.1 概述
    2. 6.2 功能方框图
    3. 6.3 特性说明
      1. 6.3.1  BQ27Z561-R2 处理器
      2. 6.3.2  电池参数测量
        1. 6.3.2.1 库仑计 (CC)
        2. 6.3.2.2 CC 数字滤波器
        3. 6.3.2.3 ADC 多路复用器
        4. 6.3.2.4 模数转换器 (ADC)
        5. 6.3.2.5 内部温度传感器
        6. 6.3.2.6 外部温度传感器支持
      3. 6.3.3  电源控制
      4. 6.3.4  总线通信接口
      5. 6.3.5  低频振荡器
      6. 6.3.6  高频振荡器
      7. 6.3.7  1.8V 低压降稳压器
      8. 6.3.8  内部基准电压
      9. 6.3.9  Gas Gauging
      10. 6.3.10 充电控制特性
      11. 6.3.11 身份验证
    4. 6.4 器件功能模式
      1. 6.4.1 终身记录特性
      2. 6.4.2 配置
        1. 6.4.2.1 以库仑为单位计
        2. 6.4.2.2 电池电压测量
        3. 6.4.2.3 自动校准
        4. 6.4.2.4 温度测量
  8. 7 应用和实施
    1. 7.1 应用信息
    2. 7.2 典型应用
      1. 7.2.1 设计要求（默认）
      2. 7.2.2 详细设计过程
        1. 7.2.2.1 更改设计参数
      3. 7.2.3 校准过程
      4. 7.2.4 监测数据更新
        1. 7.2.4.1 应用曲线
    3. 7.3 电源相关建议
    4. 7.4 布局
      1. 7.4.1 布局指南
      2. 7.4.2 布局示例
  9. 8 器件和文档支持
    1. 8.1 器件支持
      1. 8.1.1 第三方产品免责声明
    2. 8.2 文档支持
      1. 8.2.1 相关文档
    3. 8.3 接收文档更新通知
    4. 8.4 支持资源
    5. 8.5 商标
    6. 8.6 静电放电警告
    7. 8.7 术语表
  10. 9 修订历史记录
  11. 10机械、封装和可订购信息

5.1 绝对最大额定值

在自然通风条件下的工作温度范围内测得（除非另有说明）(1)
最小值最大值单位
输入电压BAT-0.36V
INT、PULS、CE-0.36V
SRP、SRN、BAT_SNS-0.3VBAT + 0.3V
TS-0.32.1V
SCL、SDA/HDQ-0.36V
工作环境温度，TA-4085°C
工作结温，TJ-40125°C
贮存温度，Tstg-65150°C
(1) 超出“绝对最大额定值”运行可能会对器件造成永久损坏。“绝对最大额定值”并不表示器件在这些条件下或在“建议运行条件”以外的任何其他条件下能够正常运行。如果超出建议运行条件但在绝对最大额定值范围内，器件可能不会完全正常运行，这可能影响器件的可靠性、功能和性能，并缩短器件寿命。